我們適用于 X 射線平板檢測器、電荷檢測和電容測量系統的高通道數 AFE 集成了多達 256 個積分器、可編程增益放大器、相關雙采樣器和高速電荷數字模數轉換器 (ADC)。這些產品采用 Chip-On-Flex 封裝或芯片，可提供各種電荷范圍和掃描時間選項，支持設計人員在靜態、半動態、動態、無損檢測以及醫療和牙科應用中權衡功耗和性能。
為何選擇我們的數字 X 射線 AFE？
簡化系統設計
通過單電源方案和高集成度簡化電路板布局布線并節省更多空間。
提升系統性能
降低功耗并提升系統幀速率和成像質量。
兼容的產品系列可滿足各類市場需求
引腳、封裝和軟件兼容的產品系列提供了一種單一平臺方法，助力客戶滿足各種靜態、動態和高電荷范圍應用的需求。