1 特性

• 256 個通道
• 片上 16 位模數轉換器 (ADC)
• 光電二極管抗短路
• 數據線（列）抗短路
• 高性能：
  • 噪聲：758 electronRMS (eRMS)，1.2pC 范圍內的 28pF 傳感器電容器
  • 積分非線性：
    內部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
  • 最小掃描時間：
    • 正常模式下為 37.9µs
    • 2x 雙像素模式下為 20µs
• 集成：
  • 8 個可選滿量程范圍：
    0.15pC（最小值）至 9.6pC（最大值）
  • 內置相關雙采樣器
  • 針對更快速數據吞吐量的 2x 雙像素模式（兩個相鄰通道的平均充電）
  • 管道式積分和讀?。悍e分期間允許數據讀取
• 靈活性：
  • 電子和空穴積分
• 低功耗：
  • 具有 ADC 時，每通道 2.9mW
  • 無 ADC 時，每通道 2.3mW
  • 打盹模式時，每通道 0.1mW
  • 總斷電特性
• 22mm x 5mm 凸出式金屬接點芯片，
  適用于帶載封裝 (TCP) 和 覆晶薄膜封裝 (COF)

2 應用范圍

平板 X 射線檢測器

3 說明

AFE1256 是一款 256 個通道模擬前端 (AFE)，此器件被設計成滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數字 X 射線系統的的要求。此器件包括 256 個積分器，一個用于滿量程充電電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)，一個具有雙組的相交雙采樣器 (CDS)，256:4 模擬復用器和四個板載 16 位，逐次逼近寄存器 (SAR) 模數轉換器 (ADC)。ADC 提供格式為 SPI™的串行數據。

硬件可選積分極性可實現正或負電荷積分，并在系統設計中提供更多的靈活性。此打盹特性大大節省了能耗。這一節電特性特別適合于電池供電類系統。

該器件可以 22mm × 5mm 凸出式金屬接點芯片形式提供，也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封裝。

如需完整數據表或其他設計資源，請點擊：請求獲取 AFE1256

1. 要了解所有可用封裝，請參見數據表末尾的封裝選項附錄。
2. 產品預覽器件。

空白

AFE1256 電路原理圖