ZHCUAN7C December 2013 – November 2022 BQ40Z50 , BQ40Z50-R2
4.4 測(cè)試保險(xiǎn)絲熔斷電路
為防止保險(xiǎn)絲熔斷測(cè)試期間電路板功能受損，EVM 實(shí)際上未提供化學(xué)保險(xiǎn)絲。如果發(fā)生保險(xiǎn)絲熔斷情況，F(xiàn)ET Q5 會(huì)將 FUSE 測(cè)試點(diǎn)驅(qū)動(dòng)為低電平。由于 FUSE 連接到開漏 FET，因此需要借助上拉電阻器來(lái)檢查 FUSE 是否拉至低電平。由于 FUSEPIN 測(cè)試點(diǎn)連接到 Q5 的柵極，因此可通過(guò)監(jiān)測(cè) FUSEPIN 來(lái)進(jìn)行測(cè)試，無(wú)需添加上拉電阻器。bq40z50 數(shù)據(jù)表中顯示了應(yīng)用板上的保險(xiǎn)絲位置。化學(xué)保險(xiǎn)絲也可焊接到 EVM 上以進(jìn)行系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試。PCB 上包含一個(gè)銅橋來(lái)繞過(guò)化學(xué)保險(xiǎn)絲，因此必須切斷該電橋以使保險(xiǎn)絲斷開電源路徑。圖 4-1 上的切斷位置以黃色顯示，且箭頭指向該位置。
圖 4-1 保險(xiǎn)絲布線修改