3kVRMS 隔離式直流/直流模塊" />
ZHCSQ20A August 2023 – September 2023 UCC14130-Q1
PRODUCTION DATA
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,將隔離柵每一側的所有引腳都連在一起,構成一個雙端子器件,并在兩側之間施加高電壓;絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。對于基礎型絕緣,VDE 標準要求使用故障率小于 1000ppm 的 TDDB 預測線。盡管額定工作隔離電壓條件下的預期最短絕緣壽命為 20 年,但是 VDE 基礎認證要求工作電壓具有額外 20% 的安全裕度,壽命具有額外 20% 的安全裕度,也就是說在工作電壓高于額定值 20% 的條件下,所需的最短絕緣壽命為 24 年。TDDB 預測線展示了隔離柵在整個壽命期內承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據,固有絕緣能力為 850 VRMS,壽命超過 100 年。
圖 9-1 TDDB:850Vrms 工作電壓下的絕緣壽命預測。