- 在 t0 時:VDRV 被置為高電平,外部 FET 提供負載電流 ILOAD。ILOAD 處于正常工作范圍內(nèi),低于警報級別設(shè)置 4A(標稱值)。ALM1_CMP 和 FLT1_CMP 比較器輸入電壓低于 TPSI3100-Q1 的 VREF 設(shè)置的比較器閾值 0.31V(標稱值)。ALM1 和 FLT1 故障通過外部上拉電阻器上拉至 VDDP 而被置為高電平。
- 在 t1 時:ILOAD 電流增加并達到 4A(標稱值)的警報級別設(shè)置。ALM1_CMP 比較器輸入電壓達到其閾值 0.31V,ALM1 在 tALM_LATENCY 內(nèi)置為低電平。由于尚未達到 FLT1_CMP 比較器輸入閾值,因此 VDRV 仍然被置為高電平。FLT1 仍然通過外部上拉電阻器上拉至 VDDP 而被置為高電平。
- 在 t2 時:ILOAD 電流增加并達到 8A(標稱值)的故障級別設(shè)置。FLT1_CMP 比較器輸入電壓達到其 0.31V 的閾值,VDRV 被快速置為低電平以禁用外部 FET。FLT1 在 tFLT_LATENCY 內(nèi)置為低電平。由于 ALM1_CMP 比較器輸入超過其閾值,因此 ALM1 仍然被置為低電平。
- 在 t3 時:由于 FET 已關(guān)斷,因此 ILOAD 被移除。FLT1_CMP 和 ALM1_CMP 比較器輸入降至其閾值以下,穩(wěn)定至 VSSS。VDRV 仍然被置為低電平,使外部 FET 保持關(guān)斷達 tREC_VDRV。FLT1 和 ALM1 分別在 tFLT_LATENCY 和 tALM_LATENCY 內(nèi)置為高電平,向系統(tǒng)指示故障和警報條件已消除。
- 在 t4 時:由于 EN 保持高電平,VDRV 再次置為高電平,已經(jīng)過 tREC_VDRV 時間,故障條件不再存在。外部 FET 啟用,在正常工作范圍內(nèi)提供 ILOAD。
圖 9-8 顯示了典型的波形捕獲。在時間 0μs 時,施加超過 5A 的負載電流 (ILOAD) 脈沖。由于這高于 4.13A 的警報比較器閾值,因此 ALM1 指示器在 tALM_LATENCY 內(nèi)被置為低電平,在這種情況下接近時間 5μs。大約在時間 15μs 時,施加超過 10A 的負載電流脈沖。由于這高于 8.27A 的故障比較器閾值,因此 VDRV 被快速置為低電平以保護功率 FET,ILOAD 降至 0A。FLT1 在 tFLT_LATENCY 內(nèi)被置為低電平,在這種情況下接近時間 30μs。在第二個負載電流脈沖上,超過故障和警報比較器閾值。ILOAD 降至故障和警報比較器閾值以下后,ALM1 和 FLT1 在接近時間 55μs 時置為高電平,指示不存在警報或故障。VDRV 保持被置為低電平,直到經(jīng)過 tREC_VDRV 時間(接近時間 180μs)。