ZHCSW48 July 2025 TPS2HC08-Q1
ADVANCE INFORMATION
8.3.3 從熱關斷中重試
當通道發生熱關斷時，根據過流事件的持續時間，器件可使用三種方法響應。表 8-2 解釋了受影響通道如何根據過流的時間以及發生的重試次數進行響應。
表 8-2 對熱關斷的響應
| 條件 | 重試時間 | |
|---|---|---|
| t < tRETRY_WINDOW | 200μs （典型值） | |
| t > tRETRY_WINDOW | nRETRY,EXTD < 7 | 100ms （典型值） |
| nRETRY,EXTD > 7 | 閉鎖 | |
在上述任何重試情況中，相關通道都必須等待 tretry 間隔和 TABS 或 TREL 恢復到 THYS 電平以下，才能重新啟動器件。如果重試計時器已結束，而 TABS 或 TREL 的溫度尚未恢復到 THYS 水平以下，則通道在溫度降至 THYS 水平以下之前不會重試。
一旦通道由于長時間過流事件而鎖閉，ENx 引腳就會從高電平變為低電平以清除熱關斷故障。FLT 引腳被拉高，SNS 引腳不再輸出 ISNSFH 或 VSNSFH。然后，在最初從高電平切換到低電平后，通道的輸出跟隨 ENx 引腳。圖 8-8 和 圖 8-9 分別顯示了在進行熱調節和不進行熱調節的情況下 VOUT1 上發生熱短路后的器件重試情況。
圖 8-8 使用熱調節功能時熱短路后的重試行為
圖 8-9 不使用熱調節功能時熱短路后的重試行為