ZHCSW48 July 2025 TPS2HC08-Q1
ADVANCE INFORMATION
8.3.3 從熱關(guān)斷中重試
當(dāng)通道發(fā)生熱關(guān)斷時(shí)，根據(jù)過流事件的持續(xù)時(shí)間，器件可使用三種方法響應(yīng)。表 8-2 解釋了受影響通道如何根據(jù)過流的時(shí)間以及發(fā)生的重試次數(shù)進(jìn)行響應(yīng)。
表 8-2 對(duì)熱關(guān)斷的響應(yīng)
| 條件 | 重試時(shí)間 | |
|---|---|---|
| t < tRETRY_WINDOW | 200μs （典型值） | |
| t > tRETRY_WINDOW | nRETRY,EXTD < 7 | 100ms （典型值） |
| nRETRY,EXTD > 7 | 閉鎖 | |
在上述任何重試情況中，相關(guān)通道都必須等待 tretry 間隔和 TABS 或 TREL 恢復(fù)到 THYS 電平以下，才能重新啟動(dòng)器件。如果重試計(jì)時(shí)器已結(jié)束，而 TABS 或 TREL 的溫度尚未恢復(fù)到 THYS 水平以下，則通道在溫度降至 THYS 水平以下之前不會(huì)重試。
一旦通道由于長(zhǎng)時(shí)間過流事件而鎖閉，ENx 引腳就會(huì)從高電平變?yōu)榈碗娖揭郧宄裏彡P(guān)斷故障。FLT 引腳被拉高，SNS 引腳不再輸出 ISNSFH 或 VSNSFH。然后，在最初從高電平切換到低電平后，通道的輸出跟隨 ENx 引腳。圖 8-8 和 圖 8-9 分別顯示了在進(jìn)行熱調(diào)節(jié)和不進(jìn)行熱調(diào)節(jié)的情況下 VOUT1 上發(fā)生熱短路后的器件重試情況。
圖 8-8 使用熱調(diào)節(jié)功能時(shí)熱短路后的重試行為
圖 8-9 不使用熱調(diào)節(jié)功能時(shí)熱短路后的重試行為