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ZHCSK82E September 2019 – June 2025 TMCS1101

PRODUCTION DATA

封裝選項(xiàng)

請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。

機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

散熱焊盤機(jī)械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

訂購信息

7.1.2 偏移量誤差和偏移量誤差漂移

失調(diào)誤差是器件中流過零輸入電流時(shí)相對(duì)于理想輸出電壓的偏差。失調(diào)誤差可以稱為電壓誤差 V_OE（對(duì)于輸出而言），也可以稱為電流失調(diào)誤差 I_OS（對(duì)于輸入而言）。不過，失調(diào)誤差是單誤差源，只能在誤差計(jì)算中包含一次。

TMCS1101 的輸出電壓失調(diào)誤差是在零輸入電流下測得的 V_OUT 相對(duì)于零電流輸出電壓理想值的偏差。該理想電壓對(duì)于單向器件 (AxU) 為 V_S 的 10%，對(duì)于雙向器件 (AxB) 為 V_S 的 50%，分別如方程式 3 和方程式 4 所示。

方程式 3.

V_{O E} = V_{O U T, 0 A} - V_{S} \times 0.1

方程式 4.

V_{O E} = V_{O U T, 0 A} - V_{S} \times 0.1

其中

V_OUT,0A 是零輸入電流下的器件輸出電壓。

失調(diào)誤差包含內(nèi)部基準(zhǔn)誤差、霍爾傳感器的磁偏移以及信號(hào)鏈的任何失調(diào)電壓誤差。

輸入?yún)⒖?(RTI) 失調(diào)誤差是輸出電壓失調(diào)誤差除以器件的靈敏度，如方程式 5 所示。將失調(diào)誤差以器件的輸入為基準(zhǔn)，以便更輕松地計(jì)算總誤差并直接與輸入電流電平進(jìn)行比較。無論怎么計(jì)算，V_OE 和 I_OS 量化的誤差源都是相同的，并且必須在誤差計(jì)算中包含一次。

方程式 5.

I_{O S} = \frac{V_{O E}}{S}

失調(diào)誤差漂移是環(huán)境溫度每變化一攝氏度時(shí)以輸入為基準(zhǔn)的失調(diào)誤差變化。該參數(shù)以 μA/°C 為單位進(jìn)行報(bào)告。若要將溫漂轉(zhuǎn)換為給定溫度變化的絕對(duì)失調(diào)量，請(qǐng)將漂移乘以溫度變化值并轉(zhuǎn)換為百分比，如方程式 6 所示。

方程式 6.

e_{I_{O S, ? T}} (%) = \frac{I_{O S, 25 ℃} + I_{O S, d r i f t} (\frac{μ A}{℃}) \times ? T}{I_{I N}}

其中

I_OS,drift 是指定的以輸入為基準(zhǔn)的器件溫漂。
ΔT 是相對(duì)于 25°C 的溫度范圍。