ZHCSYP6A February 1997 – July 2025 TLV2322 , TLV2324
PRODUCTION DATA
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測試時間不足是一個常見問題，尤其是在大批量、短測試時間的環(huán)境中測試 CMOS 器件時。CMOS 中的內(nèi)部電容天生高于雙極性和 BiFET 器件，并且比雙極性和 BiFET 器件需要更長的測試時間。隨著電源電平和溫度降低，該問題變得更加明顯。