ZHCSGN4B December 2016 – April 2017 LDC2112 , LDC2114
PRODUCTION DATA.
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 修訂歷史記錄
- 5 Pin Configuration and Functions
- 6 Specifications
-
7 Detailed Description
- 7.1 Overview
- 7.2 Functional Block Diagram
- 7.3 Feature Description
- 7.4 Device Functional Modes
- 7.5 Register Maps
-
8 Application and Implementation
- 8.1
Application Information
- 8.1.1 Theory of Operation
- 8.1.2 Designing Sensor Parameters
- 8.1.3 Setting COM Pin Capacitor
- 8.1.4 Defining Power-On Timing
- 8.1.5 Configuring Button Scan Rate
- 8.1.6 Programming Button Sampling Window
- 8.1.7 Scaling Frequency Counter Output
- 8.1.8 Setting Button Triggering Threshold
- 8.1.9 Tracking Baseline
- 8.1.10 Mitigating False Button Detections
- 8.1.11 Reporting Interrupts for Button Presses and Error Conditions
- 8.1.12 Estimating Supply Current
- 8.2 Typical Application
- 8.1
Application Information
- 9 Power Supply Recommendations
- 10Layout
- 11器件和文檔支持
- 12機械、封裝和可訂購信息
11 器件和文檔支持
11.1 文檔支持
11.2 相關鏈接
下表列出了快速訪問鏈接。類別包括技術文檔、支持和社區資源、工具和軟件，以及立即購買的快速鏈接。
11.3 接收文檔更新通知
要接收文檔更新通知，請導航至德州儀器 TI.com.cn 上的器件產品文件夾。請單擊右上角的通知我 進行注冊，即可收到任意產品信息更改每周摘要。有關更改的詳細信息，請查看任意已修訂文檔中包含的修訂歷史記錄。
11.4 社區資源
下列鏈接提供到 TI 社區資源的連接。鏈接的內容由各個分銷商“按照原樣”提供。這些內容并不構成 TI 技術規范，并且不一定反映 TI 的觀點；請參閱 TI 的 《使用條款》。
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TI E2E™ 在線社區 TI 的工程師對工程師 (E2E) 社區。此社區的創建目的在于促進工程師之間的協作。在 e2e.ti.com 中，您可以咨詢問題、分享知識、拓展思路并與同行工程師一道幫助解決問題。
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設計支持 TI 參考設計支持 可幫助您快速查找有幫助的 E2E 論壇、設計支持工具以及技術支持的聯系信息。
11.5 商標
E2E is a trademark of Texas Instruments.
All other trademarks are the property of their respective owners.
11.6 靜電放電警告
ESD 可能會損壞該集成電路。德州儀器 (TI) 建議通過適當的預防措施處理所有集成電路。如果不遵守正確的處理措施和安裝程序 , 可能會損壞集成電路。
ESD 的損壞小至導致微小的性能降級 , 大至整個器件故障。 精密的集成電路可能更容易受到損壞 , 這是因為非常細微的參數更改都可能會導致器件與其發布的規格不相符。
11.7 出口管制提示
接收方同意：如果美國或其他適用法律限制或禁止將通過本協議的披露方獲得的任何產品或技術數據（其中包括軟件）（見美國、歐盟和其他出口管理條例之定義）、或者其他適用國家條例限制的任何受管制產品或此項技術的任何直接產品出口或再出口至任何目的地，那么在沒有事先獲得美國商務部和其他相關政府機構授權的情況下，接收方不得在知情的情況下，以直接或間接的方式將其出口。
11.8 Glossary
SLYZ022 — TI Glossary.
This glossary lists and explains terms, acronyms, and definitions.