ZHCSG29G March 2017 – August 2021 ISOW7840 , ISOW7841 , ISOW7842 , ISOW7843 , ISOW7844
PRODUCTION DATA
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側的所有引腳都連在一起,構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓;對于 TDDB 測試設置,請參閱圖 10-4。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。對于增強型絕緣,VDE 標準要求使用故障率小于 1 ppm 的 TDDB 預測線。盡管額定工作隔離電壓條件下的預期最短絕緣壽命為 20 年,但是 VDE 增強認證要求工作電壓具有額外 20% 的安全裕度,壽命具有額外 87.5% 的安全裕度,也就是說在工作電壓高于額定值 20% 的條件下,所需的最短絕緣壽命為 37.5 年。
圖 10-5 展示了隔離柵在整個壽命期內承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據,固有絕緣能力為 1000VRMS,壽命為 1184 年。
圖 10-4 絕緣壽命測量的測試設置
圖 10-5 絕緣壽命預測數據