ZHCSG29G March 2017 – August 2021 ISOW7840 , ISOW7841 , ISOW7842 , ISOW7843 , ISOW7844
PRODUCTION DATA
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 修訂歷史記錄
- 5 說明（續）
- 6 引腳配置和功能
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7 規格
- 7.1 絕對最大額定值
- 7.2 ESD 等級
- 7.3 建議運行條件
- 7.4 熱性能信息
- 7.5 額定功率
- 7.6 絕緣規格
- 7.7 安全相關認證
- 7.8 安全限值
- 7.9 電氣特性 - 5V 輸入、5V 輸出
- 7.10 電源電流特性 - 5V 輸入，5V 輸出
- 7.11 電氣特性 - 3.3V 輸入、5V 輸出
- 7.12 電源電流特性 - 3.3V 輸入，5V 輸出
- 7.13 電氣特性 - 5V 輸入、3.3V 輸出
- 7.14 電源電流特性 - 5V 輸入，3.3V 輸出
- 7.15 電氣特性 - 3.3V 輸入、3.3V 輸出
- 7.16 電源電流特性 - 3.3V 輸入，3.3V 輸出
- 7.17 開關特性 - 5V 輸入，5V 輸出
- 7.18 開關特性 - 3.3V 輸入，5V 輸出
- 7.19 開關特性 - 5V 輸入，3.3V 輸出
- 7.20 開關特性 - 3.3V 輸入，3.3V 輸出
- 7.21 絕緣特性曲線
- 7.22 典型特性
- 8 參數測量信息
- 9 詳細說明
- 10應用和實現
- 11電源相關建議
- 12布局
- 13器件和文檔支持
- 14機械、封裝和可訂購信息
13.7 Electrostatic Discharge Caution
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This integrated circuit can be damaged by ESD. Texas Instruments recommends that all integrated circuits be handled with appropriate precautions. Failure to observe proper handling and installation procedures can cause damage. |
| ESD damage can range from subtle performance degradation to complete device failure. Precision integrated circuits may be more susceptible to damage because very small parametric changes could cause the device not to meet its published specifications. |