ZHCSFQ6G November 2016 – May 2024 ISO7720 , ISO7721
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 修訂歷史記錄
- 5 引腳配置和功能
- 6 規格
- 7 參數測量信息
- 8 詳細說明
- 9 應用和實施
- 10電源相關建議
- 11布局
- 12器件和文檔支持
- 13機械、封裝和可訂購信息
封裝選項
請參考 PDF 數據表獲取器件具體的封裝圖。
機械數據 (封裝 | 引腳)
- D|8
- DWV|8
- DW|16
散熱焊盤機械數據 (封裝 | 引腳)
- DW|16
訂購信息
9.2.3.1 絕緣壽命
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中，隔離柵兩側的所有引腳都連在一起，構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓；對于 TDDB 測試設置，請參閱絕緣壽命測量的測試設置。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。對于增強型絕緣，VDE 標準要求使用故障率小于 1ppm 的 TDDB 預測線。盡管額定工作隔離電壓條件下的預期最短絕緣壽命為 20 年，但是 VDE 增強認證要求工作電壓具有額外 20% 的安全裕度，壽命具有額外 50% 的安全裕度，也就是說在工作電壓高于額定值 20% 的條件下，所需的最短絕緣壽命為 30 年。
絕緣壽命預測數據 展示了隔離柵在整個壽命期內承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據，固有絕緣能力為 1500 VRMS，壽命為 36 年。其他因素，比如封裝尺寸、污染等級、材料組等，可能會進一步限制元件的工作電壓。DW-16 和 DWV-8 封裝的工作電壓上限值可達 1500VRMS，D-8 封裝工作電壓上限值可達 450VRMS。較低工作電壓所對應的絕緣壽命遠遠超過 36 年。
圖 9-5 絕緣壽命測量的測試設置
圖 9-6 絕緣壽命預測數據