ZHCSUB1C August 2023 – August 2025 ISO6520 , ISO6521
PRODUCTION DATA
絕緣壽命預(yù)測數(shù)據(jù)是使用業(yè)界通用的時(shí)間依賴性電介質(zhì)擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側(cè)的所有引腳都連在一起,構(gòu)成了一個(gè)雙端子器件并在兩側(cè)之間施加高電壓;對(duì)于 TDDB 測試設(shè)置,請(qǐng)參閱圖 8-2。絕緣擊穿數(shù)據(jù)是在開關(guān)頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個(gè)溫度范圍內(nèi)收集的。
圖 8-3 展示了隔離柵在其完整壽命期間承受高壓應(yīng)力的固有能力。根據(jù) TDDB 數(shù)據(jù),絕緣固有能力為 450VRMS 且 ISO652x(采用 REU-8 和 8-D 封裝)的壽命長于 100 年。其他因素,比如封裝尺寸、污染等級(jí)、材料組等,可能會(huì)進(jìn)一步限制元件的工作電壓。在較低的工作電壓下,相應(yīng)的絕緣壽命將遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過 100 年。
圖 8-2 絕緣壽命測量的測試設(shè)置
圖 8-3 絕緣壽命預(yù)測數(shù)據(jù)