ZHCSUB1C August 2023 – August 2025 ISO6520 , ISO6521
PRODUCTION DATA
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側的所有引腳都連在一起,構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓;對于 TDDB 測試設置,請參閱圖 8-2。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。
圖 8-3 展示了隔離柵在其完整壽命期間承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據,絕緣固有能力為 450VRMS 且 ISO652x(采用 REU-8 和 8-D 封裝)的壽命長于 100 年。其他因素,比如封裝尺寸、污染等級、材料組等,可能會進一步限制元件的工作電壓。在較低的工作電壓下,相應的絕緣壽命將遠遠超過 100 年。
圖 8-2 絕緣壽命測量的測試設置
圖 8-3 絕緣壽命預測數據