ZHCSUB1C August 2023 – August 2025 ISO6520 , ISO6521
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
-
5 規格
- 5.1 絕對最大額定值
- 5.2 ESD 等級
- 5.3 建議運行條件
- 5.4 熱性能信息
- 5.5 封裝特性
- 5.6 電氣特性 - 5V 電源
- 5.7 電源電流特性 - 5V 電源
- 5.8 電氣特性 - 3.3V 電源
- 5.9 電源電流特性 - 3.3V 電源
- 5.10 電氣特性 - 2.5V 電源?
- 5.11 電源電流特性 - 2.5V 電源
- 5.12 電氣特征 - 1.8V 電源
- 5.13 電源電流特征 - 1.8V 電源
- 5.14 開關特性 - 5V 電源
- 5.15 開關特性 - 3.3V 電源
- 5.16 開關特性 - 2.5V 電源
- 5.17 開關特征 - 1.8V 電源
- 5.18 典型特性
- 6 參數測量信息
- 7 詳細說明
- 8 應用和實施
- 9 器件和文檔支持
- 10修訂歷史記錄
- 11機械、封裝和可訂購信息
8.3 絕緣壽命
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中，隔離柵兩側的所有引腳都連在一起，構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓；對于 TDDB 測試設置，請參閱圖 8-2。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。
圖 8-3 展示了隔離柵在其完整壽命期間承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據，絕緣固有能力為 450VRMS 且 ISO652x（采用 REU-8 和 8-D 封裝）的壽命長于 100 年。其他因素，比如封裝尺寸、污染等級、材料組等，可能會進一步限制元件的工作電壓。在較低的工作電壓下，相應的絕緣壽命將遠遠超過 100 年。
圖 8-2 絕緣壽命測量的測試設置
圖 8-3 絕緣壽命預測數據