數(shù)據(jù)表
TS5A23166
- 在斷電模式中提供了隔離,V+ = 0
- 低導(dǎo)通電阻 (0.9Ω)
- 控制輸入可承受 5.5V 電壓
- 低電荷注入
- 出色的導(dǎo)通狀態(tài)電阻匹配
- 低總諧波失真 (THD)
- 1.65V 至 5.5V 單電源運(yùn)行
- 閂鎖性能超過 100mA,
符合 JESD 78 II 類規(guī)范 - 靜電放電 (ESD) 性能測試符合 JESD 22 標(biāo)準(zhǔn)
- 2000V 人體放電模型
(A114-B,II 類) - 1000V 充電器件模型 (C101)
- 2000V 人體放電模型
TS5A23166 器件是一款雙單刀單擲 (SPST) 模擬開關(guān),工作電壓范圍為 1.65V 至 5.5V。TS5A23166 器件具有較低的通態(tài)電阻和出色的通道間通態(tài)電阻匹配功能。TS5A23166 器件具有出色的總諧波失真 (THD) 性能和極低的功耗。這些 特性 再加上低功耗性能,使得這款器件適合于便攜式音頻 應(yīng)用。
技術(shù)文檔
未找到結(jié)果。請清除搜索并重試。
查看全部 6 | 類型 | 標(biāo)題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | TS5A23166 0.9Ω 雙 SPST 模擬開關(guān) 5V 和 3.3V 雙通道模擬開關(guān) 數(shù)據(jù)表 (Rev. J) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.J) | PDF | HTML | 2019年 10月 16日 |
| 應(yīng)用手冊 | 選擇正確的德州儀器 (TI) 信號開關(guān) (Rev. E) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.E) | PDF | HTML | 2022年 8月 5日 | |
| 應(yīng)用手冊 | 多路復(fù)用器和信號開關(guān)詞匯表 (Rev. B) | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 3月 11日 | ||
| 應(yīng)用簡報(bào) | 利用關(guān)斷保護(hù)信號開關(guān)消除電源時(shí)序 (Rev. C) | 英語版 (Rev.C) | PDF | HTML | 2021年 10月 21日 | ||
| 應(yīng)用手冊 | 防止模擬開關(guān)的額外功耗 | 英語版 | 2008年 7月 15日 | |||
| 應(yīng)用手冊 | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 |
設(shè)計(jì)和開發(fā)
如需其他信息或資源,請點(diǎn)擊以下任一標(biāo)題進(jìn)入詳情頁面查看(如有)。
接口適配器
LEADED-ADAPTER1 — 表面貼裝轉(zhuǎn) DIP 接頭適配器,用于快速測試 TI 的 5、8、10、16 和 24 引腳引線式封裝。
EVM-LEADED1 電路板可用于對 TI 的常見引線式封裝進(jìn)行快速測試和電路板試驗(yàn)。? 該電路板具有足夠的空間,可將 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面貼裝封裝轉(zhuǎn)換為 100mil DIP 接頭。?????
用戶指南: PDF
接口適配器
LEADLESS-ADAPTER1 — 表面貼裝轉(zhuǎn) DIP 接頭適配器,用于測試 TI 的 6、8、10、12、14、16 和 20 引腳無引線封裝
EVM-LEADLESS1 板可用于對 TI 的常見無引線封裝進(jìn)行快速測試和電路板試驗(yàn)。? 該評估板有足夠的空間,可將 TI 的 DRC、DTP、DQE、RBW、RGY、RSE、RSV、RSW RTE、RTJ、RUK、RUC、RUG、RUM、RUT 和 YZP 表面貼裝封裝轉(zhuǎn)為 100mil DIP 接頭。
用戶指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| DSBGA (YZP) | 8 | Ultra Librarian |
| DSBGA (YZT) | 8 | Ultra Librarian |
| VSSOP (DCU) | 8 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時(shí)基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
- 制造廠地點(diǎn)
- 封裝廠地點(diǎn)
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計(jì)。