TPD1E01B04-Q1
- IEC 61000-4-2 4 級 ESD 保護
- ±15kV 接觸放電
- ±17kV 空氣間隙放電
- IEC 61000-4-4 EFT 保護
- 80A (5/50ns)
- IEC 61000-4-5 浪涌保護
- 2.5A (8/20μs)
- IO 電容:
- 0.20pF(典型值)
- 0.23pF(最大值)
- 直流擊穿電壓:6.4V(典型值)
- 超低泄漏電流:10nA(最大值)
- 低 ESD 鉗位電壓:16A TLP 時為 15V
- 低插入損耗:20 GHz
- 支持速率高達 20Gbps 的高速接口
- 業(yè)界通用 0402 封裝
- 符合 AEC-Q101 標準
- 器件 HBM 分類等級 H2
- 器件 CDM 分類等級 C5
- 器件工作溫度范圍:–40°C 至 +125°C
TPD1E01B04-Q1 是一款雙向 TVS ESD 保護二極管,用于為 USB Type-C 和 FPD-Link 電路提供保護。 TPD1E01B04-Q1 的額定 ESD 沖擊消散值等于 IEC 61000-4-2 國際標準(4 級)規(guī)定的最高水平。
該器件采用一個 0.20pF(典型值)的 IO 電容,適用于保護速率高達 20Gbps 的高速接口(例如 USB 3.1 Gen2 和 FPD-Link)。低動態(tài)電阻和低鉗位電壓確保系統(tǒng)級抗瞬變事件保護。
TPD1E01B04-Q1 采用業(yè)界通用的 0402 (DPY) 封裝。
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功能與比較器件相同,但引腳排列有所不同
技術(shù)文檔
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查看全部 8 | 類型 | 標題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | TPD1E01B04-Q1 采用 0402 封裝的汽車類 0.2pF、±3.6V、±15kVESD 保護二極管 數(shù)據(jù)表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 2月 19日 |
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設(shè)計和開發(fā)
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評估板
ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝(包括 0402、0201 等)的通用評估模塊
靜電敏感器件 (ESD) 評估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產(chǎn)品系列的開發(fā)平臺。為了測試任何型號的器件,該電路板支持所有傳統(tǒng)的 ESD 封裝結(jié)構(gòu)。器件可以焊接到相應封裝結(jié)構(gòu),然后進行測試。如果是典型的高速 ESD 二極管,則應采用阻抗受控布局來獲取 S 參數(shù)并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管,則應采用有布線連接到測試點的封裝結(jié)構(gòu),以便輕松運行直流測試,例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號引腳短接至信號所在的位置,輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| X1SON (DPY) | 2 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計。