TLV3211
- 傳播延遲：40ns
- 低電源電流：每通道 40μA
- 輸入失調(diào)電壓：±5mV（最大值）
- 內(nèi)部遲滯：1.8mV
- 輸入電壓范圍超過電源軌 200mV
- 用于已知啟動的上電復(fù)位 (POR)
- 推挽輸出選項 (TLV321x)
- 開漏輸出選項 (TLV322x)
TLV321x 和 TLV322x 是 5V 單通道、雙通道和四通道高速比較器系列，具有推挽或開漏輸出選項。該系列具有出色的速度功率組合，傳播延遲為 40ns，整個電源電壓范圍為 1.8V 至 5V，每個通道的靜態(tài)電源電流僅為 40µA。
這些特性配合快速響應(yīng)時間、軌到軌輸入、低失調(diào)電壓和大輸出驅(qū)動電流，使該系列比較器特別適用于電流檢測、過零檢測以及速度至關(guān)重要的各種其他應(yīng)用。
該系列還包含上電復(fù)位 (POR) 特性，可確保輸出處于已知狀態(tài)，直到達到最小電源電壓，從而防止系統(tǒng)上電和斷電期間出現(xiàn)輸出瞬變。
TLV321x 具有推挽式輸出級，能夠灌入和拉取大電流，實現(xiàn)對稱上升和下降時間，快速驅(qū)動 MOSFET 柵極等容性負載。
TLV322x 具備漏極開路輸出，可以在低于或高于電源電壓的情況下上拉。這些器件專為低壓邏輯轉(zhuǎn)換器或組合“或”運算邏輯線路而設(shè)計。
所有器件可在 -40°C 至 125°C 的寬工作溫度范圍內(nèi)運行。
技術(shù)文檔
| 類型 | 標(biāo)題 | 下載最新的英語版本 | 日期 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | TLV321x 和 TLV322x 具有軌到軌輸入的汽車級 40ns 高速比較器 數(shù)據(jù)表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2025年 12月 1日 |
設(shè)計和開發(fā)
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AMP-PDK-EVM — 放大器高性能開發(fā)套件評估模塊
放大器高性能開發(fā)套件 (PDK) 是一款用于測試常見運算放大器參數(shù)的評估模塊 (EVM) 套件，與大多數(shù)運算放大器和比較器均兼容。該 EVM 套件提供了一個主板，主板上具有多個插槽式子卡選項以滿足封裝需求，使工程師能夠快速評估和驗證器件性能。
AMP-PDK-EVM 套件支持五種常用的業(yè)界通用封裝，包括：
- D（SOIC-8 和 SOIC-14）
- PW (TSSOP-14)
- DGK (VSSOP-8)
- DBV（SOT23-5 和 SOT23-6）
- DCK（SC70-5 和 SC70-6）
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| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
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| SOT-SC70 (DCK) | 5 | Ultra Librarian |
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