數(shù)據(jù)表
SN74CBTLV3383
- 兩個(gè)端口間使用 5Ω 開(kāi)關(guān)連接
- 支持在數(shù)據(jù) I/O 端口進(jìn)行軌至軌開(kāi)關(guān)
- Ioff 支持局部斷電模式運(yùn)行
- 鎖存性能超過(guò) 250mA,符合 JESD 17 規(guī)范
- ESD 保護(hù)性能超出 JESD 22 標(biāo)準(zhǔn)
- 2000V 人體放電模型 (A114-A)
- 200V 機(jī)器模型 (A115-A)
SN74CBTLV3383 可提供十位高速總線開(kāi)關(guān)或交換。此開(kāi)關(guān)具有低通態(tài)電阻,可以在最短傳播延遲情況下建立連接。
該器件作為 10 位總線開(kāi)關(guān)或 5 位總線交換器運(yùn)行,可將 A 對(duì)信號(hào)和 B 對(duì)信號(hào)進(jìn)行交換。總線交換功能會(huì)在 BX 高、BE 低時(shí)選中。
該器件完全 適用于 使用 Ioff 的局部斷電應(yīng)用。Ioff 特性確保在關(guān)斷時(shí)防止損壞電流通過(guò)器件回流。該器件可在關(guān)斷時(shí)提供隔離。
技術(shù)文檔
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接口適配器
LEADED-ADAPTER1 — 表面貼裝轉(zhuǎn) DIP 接頭適配器,用于快速測(cè)試 TI 的 5、8、10、16 和 24 引腳引線式封裝。
EVM-LEADED1 電路板可用于對(duì) TI 的常見(jiàn)引線式封裝進(jìn)行快速測(cè)試和電路板試驗(yàn)。? 該電路板具有足夠的空間,可將 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面貼裝封裝轉(zhuǎn)換為 100mil DIP 接頭。?????
用戶指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號(hào)、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SOIC (DW) | 24 | Ultra Librarian |
| SSOP (DBQ) | 24 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 24 | Ultra Librarian |
| TVSOP (DGV) | 24 | Ultra Librarian |
訂購(gòu)和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識(shí)
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級(jí)/回流焊峰值溫度
- MTBF/時(shí)基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測(cè)
包含信息:
- 制造廠地點(diǎn)
- 封裝廠地點(diǎn)
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評(píng)估模塊或參考設(shè)計(jì)。