產品詳情

Rating Space Integrated isolated power No Isolation rating Basic Number of channels 4 Forward/reverse channels 3 forward / 1 reverse Default output High, Low Data rate (max) (Mbps) 100 Surge isolation voltage (VIOSM) (VPK) 5200 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 4242 Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 3000 CMTI (min) (V/μs) 85000 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.25 Propagation delay time (typ) (μs) 0.0107 Current consumption per channel (DC) (typ) (mA) 0.88 Current consumption per channel (1 Mbps) (typ) (mA) 1.48 Creepage (min) (mm) 3.7 Clearance (min) (mm) 3.7
Rating Space Integrated isolated power No Isolation rating Basic Number of channels 4 Forward/reverse channels 3 forward / 1 reverse Default output High, Low Data rate (max) (Mbps) 100 Surge isolation voltage (VIOSM) (VPK) 5200 Transient isolation voltage (VIOTM) (VPK) 4242 Withstand isolation voltage (VISO) (Vrms) 3000 CMTI (min) (V/μs) 85000 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Supply voltage (max) (V) 5.5 Supply voltage (min) (V) 2.25 Propagation delay time (typ) (μs) 0.0107 Current consumption per channel (DC) (typ) (mA) 0.88 Current consumption per channel (1 Mbps) (typ) (mA) 1.48 Creepage (min) (mm) 3.7 Clearance (min) (mm) 3.7
SSOP (DBQ) 16 29.4 mm2 4.9 x 6
  • 抗輻射
    • 電離輻射總劑量 (TID) 特征值(無 ELDRS)= 30krad(Si)
    • TID RLAT/RHA = 30krad(Si)
    • 單粒子鎖定 (SEL) 在 125°C 下對 LET 的抗擾度 = 43MeV?cm2/mg
    • 單粒子絕緣擊穿 (SEDR) 在 500VDC 下的抗擾度 (43MeV?cm2/mg)
  • 增強型航天塑料(航天 EP)
    • 符合 NASA ASTM E595 釋氣規格要求
    • 供應商項目圖 (VID) V62/21610
    • 軍用級溫度范圍(-55°C 至 125°C)
    • 同一晶圓制造場所
    • 同一組裝和測試場所
    • 金鍵合線,NiPdAu 鉛涂層
    • 晶圓批次可追溯性
    • 延長了產品生命周期
    • 延長了產品變更通知周期
  • 600VRMS 連續工作電壓
    • DIN VDE V 0884-11:2017-01
    • UL 1577 組件認證計劃
  • 100 Mbps 數據速率
  • 寬電源電壓范圍:2.25V 至 5.5V
  • 2.25V 至 5.5V 電平轉換
  • 默認輸出
  • 低功耗,1Mbps 時每通道的電流典型值為 1.5mA
  • 低傳播延遲:典型值為 10.7ns(5V 電源供電時)
  • 通道間偏斜?。鹤畲?4ns(5V 電源供電時)
  • CMTI 典型值為 ±100kV/μs
  • 系統級 ESD、EFT、浪涌和磁抗擾度
  • 小型 QSOP (DBQ-16) 封裝

  • 抗輻射
    • 電離輻射總劑量 (TID) 特征值(無 ELDRS)= 30krad(Si)
    • TID RLAT/RHA = 30krad(Si)
    • 單粒子鎖定 (SEL) 在 125°C 下對 LET 的抗擾度 = 43MeV?cm2/mg
    • 單粒子絕緣擊穿 (SEDR) 在 500VDC 下的抗擾度 (43MeV?cm2/mg)
  • 增強型航天塑料(航天 EP)
    • 符合 NASA ASTM E595 釋氣規格要求
    • 供應商項目圖 (VID) V62/21610
    • 軍用級溫度范圍(-55°C 至 125°C)
    • 同一晶圓制造場所
    • 同一組裝和測試場所
    • 金鍵合線,NiPdAu 鉛涂層
    • 晶圓批次可追溯性
    • 延長了產品生命周期
    • 延長了產品變更通知周期
  • 600VRMS 連續工作電壓
    • DIN VDE V 0884-11:2017-01
    • UL 1577 組件認證計劃
  • 100 Mbps 數據速率
  • 寬電源電壓范圍:2.25V 至 5.5V
  • 2.25V 至 5.5V 電平轉換
  • 默認輸出
  • 低功耗,1Mbps 時每通道的電流典型值為 1.5mA
  • 低傳播延遲:典型值為 10.7ns(5V 電源供電時)
  • 通道間偏斜?。鹤畲?4ns(5V 電源供電時)
  • CMTI 典型值為 ±100kV/μs
  • 系統級 ESD、EFT、浪涌和磁抗擾度
  • 小型 QSOP (DBQ-16) 封裝

ISOS141-SEP 抗輻射器件是采用小型 16 引腳 QSOP 封裝的高性能四通道數字隔離器。每條隔離通道的邏輯輸入和輸出緩沖器均由雙電容二氧化硅 (SiO2) 絕緣柵相隔離。該器件具有 100Mbps 的高數據速率、10.7ns 的低傳播延遲和 4ns 的通道間嚴格偏移,支持近地軌道 (LEO) 航天應用。ISOS141-SEP 器件具有三個正向通道和一個反向通道,如果失去輸入功率或信號,默認輸出為低電平。使能引腳可用于將各輸出置于高阻抗,適用于多主驅動應用,還可降低功耗。

ISOS141-SEP 在隔離 CMOS 或 LVCMOS 數字 I/O 時,具有高電磁抗擾度和低輻射、低功耗特性。該器件具有 100kV/µs 的高共模瞬態抗擾度,可輕松緩解系統級 ESD、EFT 和浪涌問題,還通過創新的芯片設計簡化了輻射方面的合規性。

ISOS141-SEP 抗輻射器件是采用小型 16 引腳 QSOP 封裝的高性能四通道數字隔離器。每條隔離通道的邏輯輸入和輸出緩沖器均由雙電容二氧化硅 (SiO2) 絕緣柵相隔離。該器件具有 100Mbps 的高數據速率、10.7ns 的低傳播延遲和 4ns 的通道間嚴格偏移,支持近地軌道 (LEO) 航天應用。ISOS141-SEP 器件具有三個正向通道和一個反向通道,如果失去輸入功率或信號,默認輸出為低電平。使能引腳可用于將各輸出置于高阻抗,適用于多主驅動應用,還可降低功耗。

ISOS141-SEP 在隔離 CMOS 或 LVCMOS 數字 I/O 時,具有高電磁抗擾度和低輻射、低功耗特性。該器件具有 100kV/µs 的高共模瞬態抗擾度,可輕松緩解系統級 ESD、EFT 和浪涌問題,還通過創新的芯片設計簡化了輻射方面的合規性。

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設計和開發

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評估板

DIGI-ISO-EVM — 通用數字隔離器評估模塊

DIGI-ISO-EVM 是一個評估模塊 (EVM),用于評估 TI 采用以下五種不同封裝的任何單通道、雙通道、三通道、四通道或六通道數字隔離器器件:8 引腳窄體 SOIC (D)、8 引腳寬體 SOIC (DWV)、16 引腳寬體 SOIC (DW)、16 引腳超寬體 SOIC (DWW) 和 16 引腳 QSOP (DBQ) 封裝。此 EVM 具有足夠的 Berg 引腳選項,支持使用超少的外部元件來評估相應器件。

用戶指南: PDF | HTML
英語版: PDF | HTML
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仿真模型

ISOS141-SEP IBIS Model

SLLM498.ZIP (63 KB) - IBIS Model
封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
SSOP (DBQ) 16 Ultra Librarian

訂購和質量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標識
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續可靠性監測
包含信息:
  • 制造廠地點
  • 封裝廠地點

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