AFE2256

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適用于數字 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE)

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AFE3256 正在供貨 適用于動態和半動態 X 射線平板檢測器的 256 通道模擬前端 (AFE) Higher integration, fast scan time

產品詳情

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm2 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm2 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm2 38 x 28
  • 256 通道
  • 片上，16 位 ADC
  • 光電二極管抗短路
  • 高性能：
    • 噪聲：750 電子 RMS （1.2pC 輸入電荷范圍）
    • 低相關噪聲
    • 積分非線性：±2LSB，帶內部 16 位 ADC
    • 掃描時間：< 20μs 至 204.8μs
  • 積分：
    • 六種可選、滿標量程輸入范圍：0.6pC（最小）至 9.6pC（最大）
    • 內部定時發生器 (TG)
    • 內置相關雙采樣器
    • 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數據讀取
    • 串行低壓差分信令 (LVDS) 輸出
  • 簡單電源方案：
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低功耗
  • 小睡模式和完全斷電模式
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封裝
  • 256 通道
  • 片上，16 位 ADC
  • 光電二極管抗短路
  • 高性能：
    • 噪聲：750 電子 RMS （1.2pC 輸入電荷范圍）
    • 低相關噪聲
    • 積分非線性：±2LSB，帶內部 16 位 ADC
    • 掃描時間：< 20μs 至 204.8μs
  • 積分：
    • 六種可選、滿標量程輸入范圍：0.6pC（最小）至 9.6pC（最大）
    • 內部定時發生器 (TG)
    • 內置相關雙采樣器
    • 流水線式“集成和讀取”，用于提高集成期間的吞吐量數據讀取
    • 串行低壓差分信令 (LVDS) 輸出
  • 簡單電源方案：
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低功耗
  • 小睡模式和完全斷電模式
  • 定制 Chip-On-Film (COF) 封裝

AFE2256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE)，旨在滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數字 X 射線系統的要求。該器件包含 256 個集成器、1 個用于滿量程電荷電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)、1 個帶有雙電源的相關雙采樣器和 256:4 模擬多路復用器。

該器件還具有四個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數轉換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數據采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

小睡和斷電模式能夠大幅降低功耗，在由電池供電的系統中極其實用。

申請完整數據表或其他設計資源：申請 AFE2256

AFE2256 是一款 256 通道模擬前端 (AFE)，旨在滿足基于平板檢測器 (FPD) 的數字 X 射線系統的要求。該器件包含 256 個集成器、1 個用于滿量程電荷電平選擇的可編程增益放大器 (PGA)、1 個帶有雙電源的相關雙采樣器和 256:4 模擬多路復用器。

該器件還具有四個 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模數轉換器 (ADC)。來自 ADC 的串行數據采用低壓差分信令 (LVDS) 格式。

小睡和斷電模式能夠大幅降低功耗，在由電池供電的系統中極其實用。

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模擬設計期刊 選擇多通道超低電流測量 IC PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2022年 1月 20日
技術文章 Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 2017年 3月 28日

設計和開發

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評估板

AFE2256EVM — AFE2256 適用于數字 X 射線平板檢測器的 256 通道 AFE 評估模塊

AFE2256EVM 是用于評估 256 通道模擬前端 AFE2256 COF 的基于緊湊型 USB 的評估套件。該 EVM 為自包含形式，具有 DAC 和板載電源生成功能，可顯著減少對外部設備的依賴。此套件包含 EVM 和兩個單獨的 COF 適配器以及簡單易用的軟件，可用于評估 COF 器件的性能。COF 適配器是分離式模塊，因此一次 EVM 設置可評估多個 COF 適配器。USB 2.0 接口可提供快速配置下載，并通過微控制器實現 FPGA-PC 通信。

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模擬工具

PSPICE-FOR-TI — PSpice? for TI 設計和仿真工具

PSpice? for TI 可提供幫助評估模擬電路功能的設計和仿真環境。此功能齊全的設計和仿真套件使用 Cadence? 的模擬分析引擎。PSpice for TI 可免費使用，包括業內超大的模型庫之一，涵蓋我們的模擬和電源產品系列以及精選的模擬行為模型。

借助?PSpice for TI 的設計和仿真環境及其內置的模型庫，您可對復雜的混合信號設計進行仿真。創建完整的終端設備設計和原型解決方案，然后再進行布局和制造，可縮短產品上市時間并降低開發成本。?

在?PSpice for TI 設計和仿真工具中，您可以搜索 TI (...)
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封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
COF (TBN) 325 Ultra Librarian
COF (TDR) 325 Ultra Librarian
COF (TDU) 320 Ultra Librarian

訂購和質量

包含信息：
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  • 器件標識
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續可靠性監測
包含信息：
  • 制造廠地點
  • 封裝廠地點

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