ZHCUB28 may 2023 LM74703-Q1 , LM74704-Q1
2.2.2 FET 狀態檢測測試
要在啟動時發生外部 FET 短路情況下捕獲器件 FET_GOOD 引腳行為，請執行以下操作：
- 在 TP1 和 TP2 之間連接一根導線以仿真 FET 短路行為。
- 將輸入電源電壓 VIN 設置為 12V，將電流限制設置為 5 A。
- 在使用 LM74704-Q1 進行測試時，驗證是否已組裝跳線 J5，該跳線會將板上生成的上拉電壓連接到 FET_GOOD 信號。
- 為了使用外部上拉電壓進行測試，請拆除 J5 跳線并將外部上拉電壓施加到 TP3 (FET_GOOD)。
- 使用 LM74703-Q1 進行測試時，請驗證跳線 J5 是否已拆除，因為 LM74703-Q1 具有 FET_GOOD 的推挽輸出，并且不需要外部上拉電壓。
- 打開電源。
- 觀察 VIN、VOUT、GATE 和 FET_GOOD 的啟動曲線。
圖 3-4 顯示了啟動期間發生 FET 短路時的 LM74704-Q1 啟動行為。
圖 2-4 啟動期間發生 FET 短路時的 FET_GOOD (LM74704-Q1)，帶有外部上拉電壓圖 3-5 顯示了啟動期間發生 FET 短路時的 LM74703-Q1 行為。
圖 2-5 啟動期間發生 FET 短路時的 FETGOOD (LM74703-Q1)