誤差電壓 V_ERR 并非恒定值，其大小會隨不同工作條件發(fā)生變化。誤差的主要來源是上一次采樣電壓 (V_SH) 與驅(qū)動電壓 V_OUT 之間的差異。此外，輸入電壓、溫度波動、元件容差以及接近電壓軌的工作狀態(tài)均會對誤差產(chǎn)生影響，導(dǎo)致該誤差難以校準(zhǔn)。

圖 3-4 展示了由 AMC0330D 與基于 TLV9001 的差分放大器構(gòu)成的完整信號鏈的傳遞函數(shù)。X 軸表示進入隔離放大器的輸入電壓 (V_IN(AMC))。Y 軸表示 ADC 的數(shù)字輸出 (DOUT)。V_SH 的三個不同條件對應(yīng)上一次采樣通道的值。從圖形上看，該誤差并不明顯，難以從圖中直接讀取。圖 3-5 是一個更清晰的圖，可直觀呈現(xiàn) V_ERR 的負面影響。該圖展示了在模擬輸入電壓范圍內(nèi)的系統(tǒng)積分非線性 (INL)。此外，該誤差也等于傳遞函數(shù)最佳擬合線與實際轉(zhuǎn)換讀數(shù)之間的偏差。該圖顯示，相對于殘余電壓 V_SH，系統(tǒng)總滿量程誤差最大波動可達 1.06%。

圖 3-6 展示了針對速度更快的、基于 OPA365 的差分放大器的完全相同的分析。測試采用了完全相同的硬件，僅將運算放大器由 TLV9001 替換為 OPA365。在此示例中，滿量程誤差變化小于 0.26%，比采用 TLV9001 的電路提高了 4 倍。

為確保完整性，圖 3-7 展示了使用隔離式放大器單端型號 (AMC0330S) 的信號鏈。相較于 AMC0330D 搭配基于 OPA365 的差分放大器的組合方案，該方案的小幅性能提升源于放大器的全片上集成設(shè)計。高集成度消除了差分放大器分立式實現(xiàn)中的其他誤差因素。

可以看出，驅(qū)動 ADC 輸入的放大器的趨穩(wěn)時間會對信號鏈的直流傳遞函數(shù)及線性度產(chǎn)生影響。如果放大器的趨穩(wěn)時間長于 ADC 的采樣時間，則會在測量中引入顯著誤差。