ZHCAE96 July 2024 TPSI2072-Q1 , TPSI2140-Q1 , TPSI3050 , TPSI3050-Q1 , TPSI3052 , TPSI3052-Q1 , TPSI3100 , TPSI3100-Q1
與光電繼電器類似,電容隔離和電感隔離技術也會受到局部放電的影響。因此,這種現象可以量化為時間依賴型電介質擊穿 (TDDB),這是驗證任何電介質壽命的標準測試方法。可以收集器件上的時間依賴型電介質擊穿 (TDDB) 性能數據來表征預期故障率。
例如,下面是 TPSI3050-Q1 的絕緣壽命預測數據。通過收集在各種高壓等級下的擊穿數據,下圖顯示了失效時間與 VRMS 之間的關系。