1 制造測(cè)試

為了改進(jìn)制造測(cè)試流程，電量監(jiān)測(cè)計(jì)器件允許通過(guò) ManufacturerAccess() 命令開(kāi)啟或關(guān)閉某些功能。例如 PRE-CHG FET()、CHG FET()、DS FET()、Lifetime Data Collection()、Calibration() 等。僅啟用被測(cè)功能可以避免任何功能干擾，從而簡(jiǎn)化生產(chǎn)中的測(cè)試流程。這些切換命令只會(huì)設(shè)置 RAM 數(shù)據(jù)，這意味著如果向電量監(jiān)測(cè)計(jì)發(fā)出復(fù)位或密封命令，那么這些命令設(shè)置的條件將被清除。ManufacturingStatus() 跟蹤每個(gè)功能的狀態(tài)（啟用或禁用）。

數(shù)據(jù)閃存 ManufacturingStatus 提供啟用或禁用單個(gè)功能以進(jìn)行正常操作的選項(xiàng)。在收到復(fù)位或密封命令時(shí)，ManufacturingStatus() 將從數(shù)據(jù)閃存 ManufacturingStatus() 重新加載。這也意味著如果對(duì) ManufacturingStatus() 進(jìn)行更新以啟用或禁用某個(gè)功能，則只有在發(fā)送復(fù)位或密封命令時(shí)，電量監(jiān)測(cè)計(jì)才會(huì)采用新設(shè)置。