ZHCADW5 November   2023 TAA5412-Q1 , TAC5311-Q1 , TAC5312-Q1 , TAC5411-Q1 , TAC5412-Q1

1.   1
2.   摘要
3.   商標(biāo)
4. 1 引言
5. 2 診斷監(jiān)控架構(gòu)
6. 3 監(jiān)測(cè)到的故障
   1. 3.1 麥克風(fēng)故障
      1. 3.1.1 輸入短接至地
      2. 3.1.2 輸入短接至 MICBIAS
      3. 3.1.3 輸入開路
      4. 3.1.4 輸入引腳短接在一起
      5. 3.1.5 輸入過壓檢測(cè)
      6. 3.1.6 輸入短接至 VBAT
   2. 3.2 線性輸出故障
      1. 3.2.1 輸出過流
      2. 3.2.2 虛擬接地
   3. 3.3 其他故障
      1. 3.3.1 MICBIAS 過壓
         1. 3.3.1.1 DIAG_CFG11 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x51）[復(fù)位 = 0x40]
      2. 3.3.2 MICBIAS 過流
      3. 3.3.3 MICBIAS 負(fù)載電流
         1. 3.3.3.1 DIAG_CFG6 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x4C）[復(fù)位 = 0xA2]
         2. 3.3.3.2 DIAG_CFG7 寄存器
      4. 3.3.4 過熱故障
      5. 3.3.5 電源回流
7. 4 啟用診斷和編程閾值
   1. 4.1 DIAG_CFG0 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x46）[復(fù)位 = 0x00]
   2. 4.2 DIAG_CFG1 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x47）[復(fù)位 = 0x37]
   3. 4.3 DIAG_CFG2 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x48）[復(fù)位 = 0x87]
8. 5 故障診斷設(shè)置程序
9. 6 故障報(bào)告
   1. 6.1 實(shí)時(shí)寄存器
      1. 6.1.1 CHx_LIVE 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x3D）[復(fù)位 = 0b]
      2. 6.1.2 CH1_LIVE 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x3E）[復(fù)位 = 0h]
      3. 6.1.3 INT_LIVE0 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x3C）[復(fù)位 = 00]
      4. 6.1.4 INT_LIVE1 寄存器（頁面 = 0x00，地址 = 0x42）[復(fù)位 = 0x00]
      5. 6.1.5 INT_LIVE2 寄存器（頁面 = 0x00，地址 = 0x43）[復(fù)位 = 0x00]
   2. 6.2 鎖存寄存器
      1. 6.2.1 清除鎖存寄存器
   3. 6.3 故障濾波和響應(yīng)時(shí)間
      1. 6.3.1 去抖
      2. 6.3.2 掃描速率
         1. 6.3.2.1 DIAG_CFG4 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x4A）[復(fù)位 = 0xB8]
      3. 6.3.3 移動(dòng)平均值
         1. 6.3.3.1 DIAG_CFG5 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x4B）[復(fù)位 = 0h]
10. 7 對(duì)故障作出響應(yīng)
    1. 7.1 INT_CFG 寄存器（頁面 = 0x00，地址 = 0x42）[復(fù)位 = 0b]
       1. 7.1.1 DIAG_CFG10 寄存器（頁面 = 0x01，地址 = 0x50）[復(fù)位 = 0x88]
    2. 7.2 手動(dòng)恢復(fù)序列
    3. 7.3 建議的故障寄存器讀取順序
11. 8 使用 PurePath Console
    1. 8.1 高級(jí)選項(xiàng)卡
    2. 8.2 診斷演練
       1. 8.2.1 診斷配置
       2. 8.2.2 去抖配置
       3. 8.2.3 鎖存故障狀態(tài)
12. 9 診斷監(jiān)控寄存器
    1. 9.1 電壓測(cè)量
    2. 9.2 MICBIAS 負(fù)載電流
    3. 9.3 內(nèi)部芯片溫度
13. 10總結(jié)
14. 11參考文獻(xiàn)