ZHCADW5 November 2023 TAA5412-Q1 , TAC5311-Q1 , TAC5312-Q1 , TAC5411-Q1 , TAC5412-Q1
發(fā)生故障且生成中斷后，就可以使用診斷寄存器來(lái)確定是否存在故障。因?yàn)殒i存寄存器是瞬態(tài)的，并且不再反映在實(shí)時(shí)寄存器中，因此對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用來(lái)說(shuō)，鎖存寄存器用于識(shí)別故障。在讀取鎖存寄存器時(shí)，建議讀取每個(gè)鎖存故障寄存器，以便確認(rèn)已檢測(cè)到所有錯(cuò)誤并相應(yīng)地復(fù)位鎖存。寄存器讀取的確切順序取決于應(yīng)用和屏蔽設(shè)置。以下序列是推薦的默認(rèn)序列，可以避免缺失故障。
由于讀取 INT_LTCH1 中的過(guò)壓寄存器會(huì)清除 IN_CHX_LTCH 寄存器中的短接至 VBAT_IN 位，因此如果短路是瞬態(tài)短路，可能無(wú)法檢測(cè)到短接至 VBAT_IN 故障。因?yàn)橹灰?VBAT_IN > MICBIAS（在大多數(shù)應(yīng)用中就是這種情況），任何短接至 VBAT_IN 故障也會(huì)觸發(fā)過(guò)壓故障，所以最好檢測(cè)過(guò)壓故障。此外，短接至 VBAT_IN 在本質(zhì)上不太可能是瞬態(tài)的，并且仍然可以在相應(yīng)的鎖存或?qū)崟r(shí)寄存器中讀取，具體取決于 LTCH_CLR_ON_READ 設(shè)置。