ZHCAC54 February   2023 TPS22995H-Q1

1.   摘要
2.   商標(biāo)
3. 1測(cè)試設(shè)置
   1. 1.1 原理圖
   2. 1.2 布局
   3. 1.3 測(cè)試條件：
4. 2結(jié)果
   1. 2.1 功能測(cè)試結(jié)果
   2. 2.2 基線測(cè)量
   3. 2.3 測(cè)試 1：100kΩ RT 至 GND 短接 5V
   4. 2.4 測(cè)試 2：100kΩ RT 至 GND 短接 1.8V
   5. 2.5 測(cè)試 3：100kΩ RT 至 VIN 短接 5V
   6. 2.6 測(cè)試 4：100kΩ RT 至 VIN 短接 1.8V
   7. 2.7 測(cè)試 5：100kΩ RT 至 VOUT 短接 5V
   8. 2.8 測(cè)試 6：100kΩ RT 至 VOUT 短接 1.8V
5. 3總結(jié)
6. 4參考文獻(xiàn)
7. 6附錄 A