ZHCSNT8 August 2022 TPS56C231
PRODUCTION DATA
使用逐周期谷值檢測控制電路來實現(xiàn)輸出過流限制 (OCL)。在關(guān)斷狀態(tài)期間會監(jiān)測開關(guān)電流，方法是測量低側(cè) FET 漏源電壓。此電壓與開關(guān)電流成正比。在高側(cè) FET 開關(guān)導(dǎo)通期間，開關(guān)電流以線性速率增加，此速率由以下各項決定：
在低側(cè) FET 開關(guān)的導(dǎo)通階段，此電流以線性方式下降。開關(guān)電流的平均值是負載電流 IOUT。如果測得的低側(cè) FET 的漏源電壓高于與電流限制成正比的電壓，則低側(cè) FET 將保持導(dǎo)通狀態(tài)，直到電流電平變?yōu)榈陀?OCL 電平，這會降低可用的輸出電流。當電流受到限制時，輸出電壓往往會下降，因為負載需求高于轉(zhuǎn)換器可以支持的水平。當輸出電壓降至低于目標電壓的 70% 時，UVP 比較器會檢測到這種情況并在等待 1ms 后關(guān)斷器件，而器件將在 7ms 的斷續(xù)時間后重新啟動。在這種類型的谷值檢測控制中，負載電流比 OCL 閾值高出一半的峰峰值電感器紋波電流。過流狀況消除后，輸出電壓將恢復(fù)為調(diào)節(jié)值。如果在啟動期間發(fā)生 OCL 情況，則器件會立即進入斷續(xù)模式，而不會有 1ms 的等待時間。