ZHCSXK0B March 2022 – May 2025 TPS388R0-Q1
PRODUCTION DATA
執(zhí)行內置自檢 (BIST)：
從 OTP 加載配置由 ECC（支持 SEC-DED）提供輔助。這是為了防止數(shù)據(jù)完整性問題并更大程度地提高系統(tǒng)可用性。
在 BIST 期間，NIRQ 置為無效（在故障情況下置為有效），輸入引腳被忽略，并且 I2C 塊在 SDA 和 SCL 置為無效時處于不活動狀態(tài)。在 BIST 期間，NRST 置為低電平有效。BIST 包括滿足技術安全要求的器件測試。一旦 BIST 成功完成，I2C 將立即激活，并且器件在從 OTP 加載配置數(shù)據(jù)后進入空閑狀態(tài)。如果 BIST 失敗且/或 ECC 報告雙比特錯誤檢測 (DED)，則 NIRQ 被置為有效，器件進入失效防護狀態(tài)，并盡可能使 I2C 功能保持活動狀態(tài)。TEST_INFO 寄存器可能會提供有關測試結果的附加信息。
BIST 成功/失敗時的詳細行為由 INT_TEST 和 IEN_TEST 寄存器控制。通過以下方式報告 BIST 結果：