ZHCSWI2E June 2024 – October 2025 TMUXS7614D
PRODUCTION DATA
- 1
- 1 特性
- 2 應用
- 3 說明
- 4 引腳配置和功能
-
5 規格
- 5.1 絕對最大額定值
- 5.2 ESD 等級
- 5.3 熱性能信息
- 5.4 建議運行條件
- 5.5 流經開關的源極或漏極電流
- 5.6 電氣特性（全局）
- 5.7 電氣特性（±15V 雙電源）
- 5.8 開關特性（±15V 雙電源）
- 5.9 電氣特性（±20V 雙電源）
- 5.10 開關特性（±20V 雙電源）
- 5.11 電氣特性（+37.5V/-12.5V 雙電源）
- 5.12 開關特性（+37.5V/-12.5V 雙電源）
- 5.13 電氣特性（12V 單電源）
- 5.14 開關特性（12V 單電源）
- 5.15 SPI 時序特性（2.7V 至 5.5V）
- 5.16 SPI 時序特性（1.8V 至 2.7V）
- 5.17 時序圖
- 5.18 典型特性
- 6 參數測量信息
- 7 詳細說明
- 8 應用和實施
- 9 器件和文檔支持
- 10修訂歷史記錄
- 11機械、封裝和可訂購信息
8.2 典型應用
在半導體自動測試設備 (ATE) 應用中實施參數測量單元 (PMU) 就是一個利用精密性能的示例。
在自動測試設備 (ATE) 系統中，參數測量單元 (PMU) 的任務是測量器件 (DUT) 的電壓和電流參數信息。測量電壓時，在 DUT 引腳上施加電流，通過改變內部檢測電阻的值可調整電流范圍。根據 DUT 的不同，有時需要使用比系統本身支持的電流更高的測試電流。8 通道 SPST 開關可與外部高電流放大器和電阻器配合使用，以實現靈活性。PMU 工作電壓通常為中壓（最高 36V）。具有低漏電流（典型值為 0.013nA）的合適開關（如 TMUXS7614D）非常適合這些應用，因為其對測量精度的影響極低，所提供的低 RON 與平坦的 RON_FLATNESS 可以更精準地控制電流范圍。圖 8-1 展示了存儲器和半導體測試設備中此類實現的簡化圖。
圖 8-1 使用外部電阻器選擇高電流范圍