ZHCSN97 July 2021 TMCS1108-Q1
PRODUCTION DATA
TMCS1108-Q1 中用于降低溫度漂移的相同補償技術(shù)也大大降低了老化、應(yīng)力和環(huán)境條件導(dǎo)致的壽命漂移。由于高工作溫度下的老化現(xiàn)象,典型的磁傳感器會遭受高達 2% 至 3% 的靈敏度漂移。TMCS1108-Q1 極大地改善了壽命漂移,電氣特性表針對在三批次 AEC-Q100 認證期間在最壞情況應(yīng)力測試后測量的總靈敏度誤差進行了闡述。AEC-Q100 認證規(guī)定的所有其他應(yīng)力測試產(chǎn)生的靈敏度誤差低于指定的值,處于電氣特性表中指定的范圍內(nèi)。圖 9-1 展示了在進行最壞情況應(yīng)力測試(即 130°C 和 85% 相對濕度 (RH) 條件下的高加速應(yīng)力測試 (HAST))后的總靈敏度誤差,而圖 9-2 和圖 9-3 展示了在進行 AEC-Q100 規(guī)定的 1000 小時、125°C 高溫工作壽命應(yīng)力測試后的靈敏度和失調(diào)誤差漂移。該測試模擬了典型的器件壽命操作,表明與典型的磁傳感器相比,老化導(dǎo)致的可能的器件性能變化得到了極大的改善。
圖 9-1 130°C、85% RH HAST 后的靈敏度誤差
圖 9-3 AEC-Q100 高溫工作壽命應(yīng)力測試后的以輸入為基準(zhǔn)的失調(diào)漂移
圖 9-2 AEC-Q100 高溫工作壽命應(yīng)力測試后的靈敏度誤差漂移