ZHCSWO8 August 2024 TLV1H103-SEP
PRODUCTION DATA
當設計需要檢測短暫過流情況時,可以利用 TLV1H103-SEP 的鎖存特性。通過鎖存比較器輸出,MCU 不會遺漏任何過流事件。下面的電路顯示了實現鎖存功能的一種方法。
當 TLV1H103-SEP 檢測到過流情況時,輸出將切換為高電平。當輸出變為高電平,再加上 MCU 的 RESET 信號為邏輯高電平時,便會在 2 通道與非門的輸出端產生一個邏輯低電平信號。這會導致 TLV1H103-SEP 的輸出保持在邏輯高電平狀態(鎖存),從而使 MCU 能夠檢測到故障狀況,而不管過流情況持續多短的時間。通過添加與非門,還可以在 MCU 處理完事件后清除比較器的鎖存狀態。這是通過 MCU 將邏輯低電平狀態傳遞到 NAND 輸入,從而使比較器的 LE/HYS 引腳返回到邏輯高電平狀態來實現的。鎖存狀態會被清除,TLV1H103-SEP 輸出端可以繼續跟蹤輸入引腳的狀態。
過流鎖存輸出電路