ZHCSW04B April 2024 – September 2025 TCAL6416R
PRODUCTION DATA
如果發生干擾或數據損壞,可以使用上電復位功能將 TCAL6416R 復位為默認狀態。上電復位要求器件經過下電上電后才能完全復位。當器件在應用中首次上電時,也會發生此復位。
圖 8-5 將 VCCP 降至 0.2V 或 0V 以下,然后斜升
圖 8-6 將 VCCP 降至低于 POR 閾值,然后重新斜升表 8-2 列出了上電復位功能在進行兩種類型的上電復位時的性能。
| 參數(1)(2) | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| tFT | 下降速率 | 請參閱圖 8-5 | 0.1 | 2000 | ms | |
| tRT | 上升速率 | 請參閱圖 8-5 | 0.1 | 2000 | ms | |
| tTRR_GND | 重新開始斜坡的時間(當 VCC 降至 GND 時) | 請參閱圖 8-5 | 1 | μs | ||
| tTRR_POR50 | 重新開始斜坡的時間(當 VCC 降至 VPOR_MIN – 50mV 時) | 請參閱圖 8-6 | 1 | μs | ||
| VCC_GH | 當 VCCP_GW = 1μs 時,VCCP 可能會受到干擾但不會導致功能中斷的電平 | 請參閱圖 8-7 | 1.0 | V | ||
| tGW | 當 VCCP_GH = 0.5 × VCCx 時,不會導致功能中斷的干擾寬度 | 請參閱圖 8-7 | 10 | μs | ||
| VPORF | 降低 VCC 時 POR 的電壓跳變點 | 0.6 | V | |||
| VPORR | 升高 VCC 時 POR 的電壓跳變點 | 1.0 | V | |||
電源中的干擾也會影響此器件的上電復位性能。干擾寬度 (VCC_GW) 和高度 (VCC_GH) 相互依賴。旁路電容、源阻抗和器件阻抗是影響上電復位性能的因素。有關如何測量這些規格的更多信息,請參閱圖 8-7 和表 8-2。
圖 8-7 干擾寬度和干擾高度VPOR 對上電復位至關重要。達到 VPOR 這一電壓電平時,系統會釋放復位條件,并將所有寄存器和 I2C/SMBus 狀態機初始化為默認狀態。VPOR 的值不同,具體取決于 VCCP 是下降至 0 還是從 0 開始上升。有關該格式的更多詳細信息,請參閱圖 8-8 和表 8-2。
圖 8-8 VPOR