ZHCSQH3B November 2022 – January 2025 LMG3522R030 , LMG3526R030 , LMG3527R030
PRODUCTION DATA
GaN FET 通常用于高頻軟開關(guān),需要檢測 FET 電流過零來實現(xiàn)系統(tǒng)控制。LMG3527R030 集成了一個零電流檢測(ZCD)電路,該電路能夠在漏源電流為正值時提供一個數(shù)字反饋信號。當(dāng) IN 引腳信號變?yōu)楦唠娖綍r,ZCD 電路包括消隱時間 tZCD_Blank,以防止在導(dǎo)通瞬態(tài)期間出現(xiàn)麻煩的 ZCD 觸發(fā)。在消隱期之后,ZCD 電路監(jiān)測漏源電流。如果電流為負(fù),則檢測到過零點(diǎn)后,在 ZCD 引腳上設(shè)置一個寬度為 tWD_ZVD 的脈沖輸出,延遲時間為 tzc_Det。如果電流為正,則立即在 ZCD 引腳上設(shè)置脈沖輸出,如下面的時序圖所示。