在器件正常運行期間，會持續(xù)監(jiān)控許多參數(shù)

對于以下參數(shù)，如果檢測到故障情況，則會將器件轉(zhuǎn)入 FAULT 狀態(tài)。僅當故障條件被清除時，器件才會轉(zhuǎn)換至 DIAGNOSTIC 狀態(tài)（有關(guān)故障閾值，請參閱診斷；有關(guān)抗尖峰脈沖時間，請參閱開關(guān)特性）：

• VREG 過壓檢查：如果 VREG 電壓超過 V_{OVUTH_VREG}，則在 t_{VREG_OV_DT} 中檢測到故障情況。此故障檢測延遲允許 LDC5071-Q1 過濾掉 VREG 引腳上的短路毛刺脈沖。電壓降至 V_{OVLTH_VREG} 以下后，會清除故障條件。

對于以下參數(shù)，如果檢測到故障條件，則器件將轉(zhuǎn)入 FAULT 狀態(tài)，然后進入 DIAGNOSTIC 狀態(tài)，以嘗試恢復(fù)并檢測故障是否仍然存在。本節(jié)中提到的過零是指差分信號對共模電壓的過零。

• 輸出信號電壓檢查：該診斷將 OUT 引腳過零比較器的狀態(tài)與 AGC 塊輸出的相應(yīng)過零比較器的狀態(tài)進行比較。此檢查必須存在有效的旋轉(zhuǎn)信號，檢測時間將取決于電機的旋轉(zhuǎn)速度。

對于以下參數(shù)，如果檢測到故障條件，器件將轉(zhuǎn)換為 DISABLED 狀態(tài)并嘗試恢復(fù)（請參見DISABLED 狀態(tài)）：

• 寄存器 CRC 校驗：LDC5071-Q1 會計算安全關(guān)鍵型寄存器設(shè)置的 CRC 值，并將 CRC 值與記錄的預(yù)期 CRC 值進行比較。如果出現(xiàn) FAULT，LDC5071-Q1 會轉(zhuǎn)換至 DISABLED 狀態(tài)。此檢查是連續(xù)進行的。
• 關(guān)鍵寄存器冗余校驗：器件會檢查關(guān)鍵寄存器及其冗余副本的有效性。如果出現(xiàn)差異，器件會立即轉(zhuǎn)換到 DISABLED 狀態(tài)
• TM0 狀態(tài)檢查：在初始化診斷期間，該器件會檢查 TM0 引腳狀態(tài)在確定后是否發(fā)生更改。
• TOUT 狀態(tài)檢查：在初始化診斷期間，該器件會檢查 TOUT 引腳狀態(tài)在確定后是否發(fā)生更改。
• AGC_EN 切換檢查：在初始化診斷期間，該器件會檢查 AGC_EN 狀態(tài)在確定后是否發(fā)生更改。此檢查的抗尖峰脈沖時間為 t_{AGC_EN_TGL_DT}