ZHCSYW8 September 2025 ISOTMP35R
ADVANCE INFORMATION
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側的所有引腳都連在一起,構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓。有關 TDDB 測試設置,請參閱圖 7-4。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。