ZHCSYY2 September 2025 ISOTMP35R-Q1
ADVANCE INFORMATION
絕緣壽命預(yù)測數(shù)據(jù)是使用業(yè)界通用的時(shí)間依賴性電介質(zhì)擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中,隔離柵兩側(cè)的所有引腳都連在一起,構(gòu)成了一個(gè)雙端子器件并在兩側(cè)之間施加高電壓。有關(guān) TDDB 測試設(shè)置,請參閱圖 7-4。絕緣擊穿數(shù)據(jù)是在開關(guān)頻率為 60Hz 以及各種高電壓條件下在整個(gè)溫度范圍內(nèi)收集的。