ZHCSF48J March 2016 – October 2024 ISO7740 , ISO7741 , ISO7742
PRODUCTION DATA
封裝選項
機械數據 (封裝 | 引腳)
散熱焊盤機械數據 (封裝 | 引腳)
- DW|16
訂購信息
8.2.3.1 絕緣壽命
絕緣壽命預測數據是使用業界通用的時間依賴性電介質擊穿 (TDDB) 測試方法收集的。在該測試中，隔離柵兩側的所有引腳都連在一起，構成了一個雙端子器件并在兩側之間施加高電壓；對于 TDDB 測試設置，請參閱圖 8-6。絕緣擊穿數據是在開關頻率為 60 Hz 以及各種高電壓條件下在整個溫度范圍內收集的。對于增強型絕緣，VDE 標準要求使用故障率小于 1ppm 的 TDDB 預測線。盡管額定工作隔離電壓條件下的預期最短絕緣壽命為 20 年，但是 VDE 增強認證要求工作電壓具有額外 20% 的安全裕度，壽命具有額外 50% 的安全裕度，也就是說在工作電壓高于額定值 20% 的條件下，所需的最短絕緣壽命為 30 年。
圖 8-7 展示了隔離柵在其整個壽命期間承受高壓應力的固有能力。根據 TDDB 數據，固有絕緣能力為 1500VRMS，壽命為 36 年。其他因素，比如封裝尺寸、污染等級、材料組等，可能會進一步限制元件的工作電壓。DW-16 封裝的工作電壓上限值可達 1500VRMS。較低工作電壓所對應的絕緣壽命遠遠超過 36 年。在 400VRMS 工作電壓下，DBQ-16 封裝的壽命比 DW-16 封裝長得多。
圖 8-6 絕緣壽命測量的測試設置
圖 8-7 絕緣壽命預測數據