ZHCSV51A February 2025 – June 2025 HDC3120-Q1
PRODUCTION DATA
請(qǐng)參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。
“NIST 可追溯性”系指將測(cè)量或測(cè)試結(jié)果與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 (NIST) 標(biāo)準(zhǔn)相聯(lián)系的校準(zhǔn)鏈。這意味著已根據(jù)已知且可靠的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)量所用設(shè)備或流程進(jìn)行校準(zhǔn)，最終能夠追溯至 NIST 基本標(biāo)準(zhǔn)。
HDC3120-Q1 器件在生產(chǎn)調(diào)試階段經(jīng)過(guò) 100% 測(cè)試，可通過(guò) NIST 進(jìn)行追溯，且使用經(jīng) ISO/IEC 17025 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)的設(shè)備進(jìn)行了驗(yàn)證。所以 HDC3120-Q1 的設(shè)計(jì)可用于冷鏈管理等應(yīng)用，在這些應(yīng)用中，建立已知基準(zhǔn)的完整校準(zhǔn)鏈至關(guān)重要。
對(duì)于每個(gè) HDC3120-Q1 部件，都有一個(gè)分配給該器件的唯一 ID。該唯一 ID 包含只有德州儀器 (TI) 能夠訪問(wèn)的重要信息，能夠確保每個(gè)芯片均可追溯至生產(chǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)，以便查看是否存在可能導(dǎo)致器件故障的測(cè)試參數(shù)或制造工藝條件。如需獲取支持，請(qǐng)聯(lián)系德州儀器 (TI)。