當低側電源 (VDD2) 開啟時，開漏輸出以高阻抗狀態（高阻態）上電。上電后，如果高側還未正常運行，輸出會主動拉至低電平。這種情況在低側啟動時間加上高側故障檢測延遲時間 (t_LS,STA + t_HS,FLT) 之后發生，如圖 6-3 所示。類似地，如果正常工作期間高側電源電壓降至欠壓閾值 (VDD1_UV) 以下并且持續時間超過高側故障檢測延遲時間，則開漏輸出被拉至低電平，如圖 6-6 所述。此延遲讓系統能夠在高側電源缺失時可靠地關斷。

AMC23C10-Q1 的推挽輸出 (OUT2) 與開漏輸出 (OUT1) 具有相似的行為，但極性相反。

比較器高側和低側之間的通信具有一定的延遲，即高側消隱時間（t_HS,BLK，在高壓側實現的時間常數），以避免在上電期間意外切換比較器輸出。

圖 6-3 至圖 6-8 展示了典型的上電和斷電情況。

在圖 6-3 中，低側電源 (VDD2) 開啟，但高側電源 (VDD1) 保持關閉。OUT1 以高阻態上電，而 OUT2 保持低電平。經過 t_{HS, FLT} 后，OUT1 驅動為低電平，而 OUT2 驅動為高電平，指示高側出現無電源故障。

在圖 6-4 中，高側電源 (VDD1) 在低側電源 (VDD2) 開啟很長時間后開啟。OUT1 最初處于低電平狀態，而 OUT2 處于高電平狀態；請參閱實例 (1)。在高側電源啟用后，需要保持一段時間 (t_HS,STA + t_{HS, BLK})，器件才會正常運行，并且輸出會反映比較器的當前狀態。

圖 6-3 VDD2 開啟且 VDD1 保持關閉

圖 6-4 VDD2 保持開啟；VDD1 開啟
（長延遲）

在圖 6-5 中，低側電源 (VDD2) 開啟，然后在短暫延遲后，高側電源 (VDD1) 開啟。OUT1 最初處于高阻態，而 OUT2 為低電平。高側故障檢測延遲 (t_HS,FLT) 短于高側消隱時間 (t_HS,BLK)，因此在經過 t_HS,FLT 后，OUT1 驅動為低電平，而 OUT2 驅動為高電平，指示高側還未正常工作。經過高側消隱時間 (t_HS,BLK) 后，器件才會正常運行，并且輸出會反映比較器的當前狀態。

在圖 6-6 中，高側電源 (VDD1) 關閉，接著低側電源 (VDD2) 關閉。經過高側故障檢測延遲時間 (t_HS,FLT) 后，OUT1 驅動為低電平，而 OUT2 驅動為高電平。一旦 VDD2 降至 VDD2_UV 閾值以下，OUT1 會進入高阻態，而 OUT2 會驅動為低電平。

圖 6-5 VDD2 和 VDD1 先后開啟
（短暫延遲）

圖 6-6 VDD1 和 VDD2 先后關閉

在圖 6-7 中，低側電源 (VDD2) 會在高側完全上電后（VDD1 與 VDD2 之間的延遲大于 (t_HS,STA + t_HS,BLK)）開啟。OUT1 會以高阻態啟動，而 OUT2 會以低電平狀態啟動。經過低側啟動時間 (t_LS,STA) 后，器件會進入正常工作狀態。

在圖 6-8 中，低側電源 (VDD2) 會關閉，接著高側電源 (VDD1) 會關閉。一旦 VDD2 降至 VDD2_UV 閾值以下，OUT1 會進入低阻態，而 OUT2 會驅動為低電平。

圖 6-7 VDD1 和 VDD2 先后開啟
（長延遲）

圖 6-8 VDD2 和 VDD1 先后關閉