ZHCSQC0C June 2022 – April 2025 ADC12DJ5200-SP
PRODUCTION DATA
SYSREF 窗口化塊用于首先檢測 SYSREF 相對于 CLK± 上升沿的位置，然后選擇所需的 SYSREF 采樣實例（該實例是 CLK± 的延遲版本），以最大程度地提高建立和保持時序裕度。在很多情況下，單個 SYSREF 采樣位置 SYSREF_SEL 足以滿足所有系統（器件間的差異）和條件（溫度和電壓差異）的時序要求。但是，系統也可以使用此功能來擴展計時窗口（方法是在工作條件發生變化時跟蹤 SYSREF 的移動），或者在生產測試時消除系統間的差異（方法是為每個系統在標稱條件下尋找唯一的更優值）。
本部分介紹了 SYSREF 窗口化塊的正確用法。首先，將器件時鐘和 SYSREF 應用于器件。SYSREF 相對于器件時鐘周期的位置將被確定并存儲在 SYSREF 采集位置寄存器的 SYSREF_POS 位中。ADC12DJ5200-SP 必須看到至少 3 個 SYSREF 上升沿，SYSREF_POS 輸出才會有效。SYSREF_POS 的每個位代表一個潛在的 SYSREF 采樣位置。如果 SYSREF_POS 中的位設置為 1，則相應的 SYSREF 采樣位置可能存在建立或保持時間違例。確定有效的 SYSREF 采樣位置（SYSREF_POS 的位置設置為 0）后，可以通過將時鐘控制寄存器 0 中的 SYSREF_SEL 設置為對應于該 SYSREF_POS 位置的值來選擇所需的采樣位置。通常，選擇兩個建立和保持實例之間的中間采樣位置。理想情況下，SYSREF_POS 和 SYSREF_SEL 在系統的標稱工作條件（溫度和電源電壓）下執行，以便提供最大裕度來適應工作條件的變化。此過程可在最終測試中執行，并且可存儲更優 SYSREF_SEL 設置，以便在每次系統上電時使用。此外，SYSREF_POS 可用于通過掃描系統溫度和電源電壓來表征系統工作條件下 CLK± 和 SYSREF± 之間的偏斜。對于 CLK± 到 SYSREF± 偏斜有較大變化的系統，此表征可用于在系統工作條件發生變化時跟蹤更優 SYSREF 采樣位置。通常，可以找到滿足匹配良好的系統在所有條件下的時序要求的單個值，例如 CLK± 和 SYSREF± 來自單個時鐘器件的條件。
使用自動 SYSREF 校準時，SYSREF_SEL 必須設置為 0；請參閱自動 SYSREF 校準 部分。
每個 SYSREF_POS 采樣位置之間的步長可使用 SYSREF_ZOOM 進行調整。當 SYSREF_ZOOM 設置為 0 時，延遲步長較粗。當 SYSREF_ZOOM 設置為 1 時，延遲步長較細。請參閱開關特性 表，了解當 SYSREF_ZOOM 被啟用和禁用時的延遲步長。通常，建議在 fCLK = 3GHz 以上時使用 SYSREF_ZOOM = 1，在 fCLK = 3GHz 以下時使用 SYSREF_ZOOM = 0。SYSREF_POS 的位 0 和 23 始終設置為 1，因為沒有足夠的信息來確定這些設置是否接近時序違例，盡管實際有效窗口可以擴展到這些采樣位置之外。編程到 SYSREF_SEL 中的值是表示 SYSREF_POS 中所需位位置的十進制數。表 6-6 列出了一些 SYSREF_POS 讀數示例和更優 SYSREF_SEL 設置。盡管 SYSREF_POS 狀態寄存器提供了 24 個采樣位置，但 SYSREF_SEL 僅允許選擇前 16 個采樣位置，對應于 SYSREF_POS 位 0 至 15。附加的 SYSREF_POS 狀態位僅用于提供 SYSREF 有效窗口的額外信息。通常，由于電源電壓的延遲變化，選擇較低的 SYSREF_SEL 值，但在第四個示例中，值 15 可提供額外裕度，因此可以選擇該值。
| SYSREF_POS[23:0] | 更優 SYSREF_SEL 設置 | ||
|---|---|---|---|
| 0x02E[7:0] （最大延遲） | 0x02D[7:0](1) | 0x02C[7:0](1) （最小延遲） | |
| b10000000 | b01100000 | b00011001 | 8 或 9 |
| b10011000 | b00000000 | b00110001 | 12 |
| b10000000 | b01100000 | b00000001 | 6 或 7 |
| b10000000 | b00000011 | b00000001 | 4 或 15 |
| b10001100 | b01100011 | b00011001 | 6 |