TPD4EUSB30
- 支持 USB 3.0 數(shù)據(jù)速率 (5Gbps)
- IEC 61000-4-2 ESD 保護（4 級接觸式）
- IEC 61000-4-5 浪涌保護
- 5A (8/20μs)
- 低電容
- DRT：0.7pF（典型值）
- DQA：0.8pF（典型值）
- 動態(tài)電阻：0.6Ω（典型值）
- 節(jié)省空間的 DRT、DQA 封裝
- 直通引腳映射
TPD2EUSB30、TPD2EUSB30A 和 TPD4EUSB30 是基于 2 通道和 4 通道瞬態(tài)電壓抑制器 (TVS) 的靜電放電 (ESD) 保護二極管陣列。TPDxEUSB30/A 器件的額定 ESD 沖擊消散值達到了 IEC 61000-4-2 國際標準（接觸式）規(guī)定的最高水平。根據(jù) IEC 61000-4-5（浪涌）規(guī)范，這類器件還可提供 5A (8/20µs) 的峰值脈沖電流額定值。
TPD2EUSB30A 具有 4.5V 的低直流擊穿電壓。憑借低電容、低擊穿電壓和低動態(tài)電阻，TPD2EUSB30A 器件可為高速差分 IO 提供出色的保護。
TPD2EUSB30 和 TPD2EUSB30A 可采用節(jié)省空間的 DRT (1mm × 1mm) 封裝。TPD4EUSB30 可采用節(jié)省空間的 DQA (2.5mm × 1.0mm) 封裝。
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 數(shù)據(jù)表 | TPDxEUSB30 用于超高速 USB 3.0 接口的 2、4 通道 ESD 保護 數(shù)據(jù)表 (Rev. G) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.G) | PDF | HTML | 2021年 7月 22日 |
| 用戶指南 | 閱讀并了解 ESD 保護數(shù)據(jù)表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 9月 22日 | |
| 應(yīng)用手冊 | ESD 保護布局指南 (Rev. A) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 7月 25日 | |
| 白皮書 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 |
設(shè)計和開發(fā)
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評估板
ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝（包括 0402、0201 等）的通用評估模塊
靜電敏感器件 (ESD) 評估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產(chǎn)品系列的開發(fā)平臺。為了測試任何型號的器件，該電路板支持所有傳統(tǒng)的 ESD 封裝結(jié)構(gòu)。器件可以焊接到相應(yīng)封裝結(jié)構(gòu)，然后進行測試。如果是典型的高速 ESD 二極管，則應(yīng)采用阻抗受控布局來獲取 S 參數(shù)并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管，則應(yīng)采用有布線連接到測試點的封裝結(jié)構(gòu)，以便輕松運行直流測試，例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號引腳短接至信號所在的位置，輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| USON (DQA) | 10 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息：
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息：
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計。