SN74LVC2G07-EP

正在供貨

具有漏極開路輸出的 2 通道、1.65V 至 5.5V 緩沖器（增強型產(chǎn)品）

產(chǎn)品詳情

Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 2 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (μA) 10 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Supply voltage (min) (V) 1.65 Supply voltage (max) (V) 5.5 Number of channels 2 IOL (max) (mA) 32 Supply current (max) (μA) 10 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Open-drain Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-SC70 (DCK) 6 4.2 mm2 2 x 2.1
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs and Open-Drain Outputs Accept Voltages up to 5.5 V
  • Max tpd of 5.7 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10 μA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
    <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
    >2 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs and Open-Drain Outputs Accept Voltages up to 5.5 V
  • Max tpd of 5.7 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10 μA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Typical VOLP (Output Ground Bounce)
    <0.8 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Typical VOHV (Output VOH Undershoot)
    >2 V at VCC = 3.3 V, TA = 25°C
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This dual buffer/driver is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation. The output of the SN74LVC2G07 is open drain and can be connected to other open-drain outputs to implement active low wired OR or active high wired AND functions. The maximum sink current is 32 mA.

This device is fully specified for partial power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This dual buffer/driver is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation. The output of the SN74LVC2G07 is open drain and can be connected to other open-drain outputs to implement active low wired OR or active high wired AND functions. The maximum sink current is 32 mA.

This device is fully specified for partial power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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* 數(shù)據(jù)表 Dual Buffer/Driver With Open Drain Ouputs 數(shù)據(jù)表 2008年 5月 29日
* VID SN74LVC2G07-EP VID V6208616 2016年 6月 21日
* 輻射與可靠性報告 SN74LVC2G07MDCKTEP Reliability Report 2013年 9月 6日
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應(yīng)用手冊 TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
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應(yīng)用手冊 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
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應(yīng)用手冊 Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
應(yīng)用手冊 Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
應(yīng)用手冊 CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
應(yīng)用手冊 LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
應(yīng)用手冊 Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
應(yīng)用手冊 Live Insertion 1996年 10月 1日
設(shè)計指南 Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
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設(shè)計與開發(fā)

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SOT-SC70 (DCK) 6 Ultra Librarian

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