數(shù)據(jù)表
SN74LVC1G66
- 采用德州儀器 (TI) NanoFree? 封裝
- 1.65V 至 5.5V VCC 運(yùn)行
- 允許接受輸入電壓 5.5V
- tpd 最大值為 0.8ns(3.3V 時(shí))
- 高開關(guān)輸出電壓比
- 高度線性
- 高速,典型值為 0.5ns(VCC = 3V, CL = 50pF)
- 低導(dǎo)通狀態(tài)電阻,典型值約為 5.5? (VCC = 4.5V)
- 閂鎖性能超過 100mA,符合 JESD 78 II 類規(guī)范的要求
- ESD 保護(hù)性能超過 JESD 22 規(guī)范要求
- 2000V 人體放電模型 (A114-A)
- 200V 機(jī)器放電模型 (A115-A)
- 1000V 充電器件模型 (C101)
SN74LVC1G66 單路、雙邊模擬開關(guān)專為 1.65V 至 5.5V VCC 運(yùn)行而設(shè)計(jì),并支持模擬和數(shù)字信號。SN74LVC1G66 允許雙向傳輸振幅高達(dá) 5.5V(峰值)的信號。通過將裸片用作封裝,NanoFree 封裝技術(shù)代表了 IC 封裝概念的一項(xiàng)重大進(jìn)步。
技術(shù)文檔
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查看全部 33 設(shè)計(jì)和開發(fā)
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評估板
DIP-ADAPTER-EVM — DIP 適配器評估模塊
借助 DIP-Adapter-EVM 加快運(yùn)算放大器的原型設(shè)計(jì)和測試,該 EVM 有助于快速輕松地連接小型表面貼裝 IC 并且價(jià)格低廉。您可以使用隨附的 Samtec 端子板連接任何受支持的運(yùn)算放大器,或者將這些端子板直接連接至現(xiàn)有電路。
DIP-Adapter-EVM 套件支持六種常用的業(yè)界通用封裝,包括:
- D 和 U (SOIC-8)
- PW (TSSOP-8)
- DGK(MSOP-8、VSSOP-8)
- DBV(SOT23-6、SOT23-5 和 SOT23-3)
- DCK(SC70-6 和 SC70-5)
- DRL (SOT563-6)
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接口適配器
LEADLESS-ADAPTER1 — 表面貼裝轉(zhuǎn) DIP 接頭適配器,用于測試 TI 的 6、8、10、12、14、16 和 20 引腳無引線封裝
EVM-LEADLESS1 板可用于對 TI 的常見無引線封裝進(jìn)行快速測試和電路板試驗(yàn)。? 該評估板有足夠的空間,可將 TI 的 DRC、DTP、DQE、RBW、RGY、RSE、RSV、RSW RTE、RTJ、RUK、RUC、RUG、RUM、RUT 和 YZP 表面貼裝封裝轉(zhuǎn)為 100mil DIP 接頭。
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參考設(shè)計(jì)
TIDA-010941 — 具有環(huán)境光消除功能、用于煙霧探測的智能模擬傳感器接口參考設(shè)計(jì)
此參考設(shè)計(jì)提供了一種 BOM 成本較低的煙霧探測器設(shè)計(jì),該設(shè)計(jì)通過了 UL217 第 9 版靈敏度和防火室測試。通過使用基于調(diào)制的光電架構(gòu),此參考設(shè)計(jì)能夠?qū)Νh(huán)境光實(shí)現(xiàn)高阻隔,適用于腔體或無腔煙霧探測。此設(shè)計(jì)還具有較高的信號鏈信噪比,有助于實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的算法,以減少煙霧探測器應(yīng)用和空氣質(zhì)量檢測應(yīng)用中微粒檢測的誤報(bào)。此設(shè)計(jì)使用 MSPM0L1306 微控制器的低功耗模式,使用 9V 堿性電池可實(shí)現(xiàn) 10 年的電池壽命。
設(shè)計(jì)指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| DSBGA (YZP) | 5 | Ultra Librarian |
| SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
| SOT-5X3 (DRL) | 5 | Ultra Librarian |
| SOT-SC70 (DCK) | 5 | Ultra Librarian |
| USON (DRY) | 6 | Ultra Librarian |
| X2SON (DSF) | 6 | Ultra Librarian |
訂購和質(zhì)量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標(biāo)識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時(shí)基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續(xù)可靠性監(jiān)測
包含信息:
- 制造廠地點(diǎn)
- 封裝廠地點(diǎn)
推薦產(chǎn)品可能包含與 TI 此產(chǎn)品相關(guān)的參數(shù)、評估模塊或參考設(shè)計(jì)。