SN74LVC02A-EP

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增強型產(chǎn)品 4 通道、2 輸入、2V 至 3.6V 或非門

產(chǎn)品詳情

Technology family LVC Number of channels 4 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 3.6 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Number of channels 4 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 3.6 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Output type Push-Pull Input type Standard CMOS Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
TSSOP (PW) 14 32 mm2 5 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Customer-Specific Configuration Control Can Be Supported Along With Major-Change Approval
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Customer-Specific Configuration Control Can Be Supported Along With Major-Change Approval
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The quadruple 2-input positive-NOR gate is designed for 2.7-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74LVC02A performs the Boolean function Y = A + B or Y = A • B in positive logic.

Inputs can be driven from either 3.3-V or 5-V devices. This feature allows the use of this device as a translator in a mixed 3.3-V/5-V system environment.

The quadruple 2-input positive-NOR gate is designed for 2.7-V to 3.6-V VCC operation.

The SN74LVC02A performs the Boolean function Y = A + B or Y = A • B in positive logic.

Inputs can be driven from either 3.3-V or 5-V devices. This feature allows the use of this device as a translator in a mixed 3.3-V/5-V system environment.
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類型 標題 下載最新的英語版本 日期
* 數(shù)據(jù)表 SN74LVC02A-EP 數(shù)據(jù)表 2007年 3月 14日
* VID SN74LVC02A-EP VID V6206660 2016年 6月 21日
* 輻射與可靠性報告 SN74LVC02AMPWREP Reliability Report 2016年 2月 16日
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應用手冊 CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
應用手冊 LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
應用手冊 Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
應用手冊 Live Insertion 1996年 10月 1日
設計指南 Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
應用手冊 Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日
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設計和開發(fā)

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封裝 引腳 CAD 符號、封裝和 3D 模型
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian

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