SN74CB3Q3253
- 高帶寬數據路徑(高達 500 MHz)(1)
- 可耐受 5V 電壓和支持器件上電或斷電的 I/O 端口
- 在運行范圍內具有平緩的低通態電阻 (ron) 特性(ron 典型值 = 4?)
- 支持在數據 I/O 端口進行軌至軌開關
- 3.3V VCC 時,開關范圍為 0 至 5V
- 2.5V VCC 時,開關范圍為 0 至 3.3V
- 具有接近零傳播延遲的雙向數據流
- 低輸入/輸出電容可最大限度地減小負載和信號失真(Cio(OFF) 典型值 = 3.5 pF)
- 快速開關頻率(fOE 最大值 = 20MHz)
- 數據與控制輸入提供下沖鉗位二極管
- 低功耗(ICC 典型值 = 0.6mA)
- VCC 工作電壓范圍為 2.3V 至 3.6V
- 數據 I/O 支持 0V 至 5V 信號電平(0.8V、1.2V、1.5V、1.8V、2.5V、3.3V、5V)
- 控制輸入可由 TTL 或 5V 和 3.3V CMOS 輸出驅動
- Ioff 支持局部關斷模式運行
- 鎖斷性能超過 100mA,符合 JESD 78 II 類規范的要求
- ESD 性能測試符合 JESD 22 標準
- 2000V 人體放電模型(A114-B,II 類)
- 1000V 充電器件模型 (C101)
- 支持數字和模擬 應用:USB 接口、差分信號接口總線隔離、低失真信號閘控 (1)
(1)有關 CB3Q 系列器件性能特點的更多信息,請參考 TI 應用報告 CBT-C、CB3T 和 CB3Q 信號開關系列,(SCDA008)。
SN74CB3Q3253 器件是一款高帶寬 FET 總線開關,此開關利用一個電荷泵來提升通道晶體管的柵極電壓,從而提供一個平緩的低通態電阻 (ron)。平緩的低通態電阻可實現最小傳播延遲,并且支持在數據輸入/輸出 (I/O) 端口上進行軌至軌開關。
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接口適配器
LEADED-ADAPTER1 — 表面貼裝轉 DIP 接頭適配器,用于快速測試 TI 的 5、8、10、16 和 24 引腳引線式封裝。
EVM-LEADED1 電路板可用于對 TI 的常見引線式封裝進行快速測試和電路板試驗。? 該電路板具有足夠的空間,可將 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面貼裝封裝轉換為 100mil DIP 接頭。?????
用戶指南: PDF
接口適配器
LEADLESS-ADAPTER1 — 表面貼裝轉 DIP 接頭適配器,用于測試 TI 的 6、8、10、12、14、16 和 20 引腳無引線封裝
EVM-LEADLESS1 板可用于對 TI 的常見無引線封裝進行快速測試和電路板試驗。? 該評估板有足夠的空間,可將 TI 的 DRC、DTP、DQE、RBW、RGY、RSE、RSV、RSW RTE、RTJ、RUK、RUC、RUG、RUM、RUT 和 YZP 表面貼裝封裝轉為 100mil DIP 接頭。
用戶指南: PDF
| 封裝 | 引腳 | CAD 符號、封裝和 3D 模型 |
|---|---|---|
| SSOP (DBQ) | 16 | Ultra Librarian |
| TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
| TVSOP (DGV) | 16 | Ultra Librarian |
| VQFN (RGY) | 16 | Ultra Librarian |
訂購和質量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件標識
- 引腳鍍層/焊球材料
- MSL 等級/回流焊峰值溫度
- MTBF/時基故障估算
- 材料成分
- 鑒定摘要
- 持續可靠性監測
包含信息:
- 制造廠地點
- 封裝廠地點
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