應(yīng)對(duì)功能安全系統(tǒng)不斷發(fā)展而帶來的挑戰(zhàn)

隨著安全系統(tǒng)從失效防護(hù)系統(tǒng)發(fā)展到失效操作系統(tǒng)，以及電氣化傳動(dòng)系統(tǒng)和變速器的快速發(fā)展，開發(fā)人員需要實(shí)施創(chuàng)新的方法來避免故障和檢測(cè)故障，同時(shí)還需要規(guī)劃與進(jìn)入和退出安全狀態(tài)相關(guān)的策略。

TI 的電源管理和模擬信號(hào)鏈產(chǎn)品系列可以提供完整的系統(tǒng)解決方案來應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。安全電源管理 IC（比如 TPS653853-Q1）以及電機(jī)驅(qū)動(dòng)器（DRV3245Q-Q1（AEC-Q100 1 級(jí)）和 DRV3245E-Q1（AEC-Q100 0 級(jí)））解決了失效操作、線控和高溫安全系統(tǒng)中的多種系統(tǒng)集成挑戰(zhàn)。

其中的一些優(yōu)勢(shì)包括：

• 提供引腳對(duì)引腳且軟件兼容的 AEC-Q100 1 級(jí) (Ta = 125°C) 和 AEC-Q100 0 級(jí) (Ta = 150°C) 可擴(kuò)展版本。
• 在單定子或雙定子電機(jī)系統(tǒng)中提供 ASIL-D 系統(tǒng)功能。
• 借助針對(duì)性能和物料清單進(jìn)行優(yōu)化的架構(gòu)，降低電路板上半導(dǎo)體元件數(shù)量翻倍而產(chǎn)生的成本影響。
• 能夠?qū)?IC 時(shí)基故障率整合到系統(tǒng)級(jí)時(shí)基故障率計(jì)算中，包括為高溫安全應(yīng)用定制的任務(wù)剖面。
• 提供 IC 級(jí)別的時(shí)基故障率、故障模式影響和診斷分析。

此外，TI 提供 IC 級(jí)硬件指標(biāo)的假設(shè)，并支持開發(fā)人員針對(duì)特定系統(tǒng)調(diào)整 IC 級(jí)硬件指標(biāo)。

要開始進(jìn)行電機(jī)系統(tǒng)安全開發(fā)，請(qǐng)考慮將 DRV3245Q-Q1 評(píng)估模塊（隨附多個(gè) TI 安全外設(shè)）與 Hercules? TMS570LS12x LaunchPad? 開發(fā)套件配合使用。下面的圖 3 顯示了與該開發(fā)套件配合使用的 DRV3245Q-Q1 評(píng)估模塊。