對于噪聲抑制基準測試，該測試使用以下配置。

• VREF 與 TMS320F28P650 MCU 和 AMC0330R 器件中的 16 位 SAR ADC 共享，如 圖 2-2 所示
• AWG 注入調制基準電壓，其中 VREF(NOM) = 3V，VREF(INJ) = 300mVpp（正弦波）(圖 2-4)
• 輸入電壓為零 (VIN=0V)

圖 2-4 施加到 V_REF 以進行抑制測試的波形

測試操作步驟如下：

• AWG 會以多步方式對 V_REF 進行掃頻，范圍為從 500Hz 到 100kHz
• 在每個步驟中，MCU 都會存儲 8192個 ADC 樣本
• 在每個步驟中，個人計算機 (PC) 中的軟件都會對 ADC 樣本應用快速傅里葉變換 (FFT)，并以與當前步驟和 AWG 輸出相對應的頻率讀取峰值
• 軟件根據 FFT 峰值計算峰值振幅 V_ADC(OUT)
• 系統計算衰減

圖 2-5 展示了 500Hz 至 100Hz 范圍內所有步驟的曲線。

圖 2-5 比例式配置 V_REF 噪聲抑制