2 測(cè)試設(shè)置

TI 的 PCIe 合規(guī)性報(bào)告顯示了為滿足 PCIe 要求而對(duì)器件的相位噪聲或抖動(dòng)進(jìn)行的分析。此 PCIe 合規(guī)性報(bào)告顯示了典型條件下的測(cè)試結(jié)果。對(duì)于 LMKDB1xxx 系列，工作溫度為 25°C，電源電壓為 3.3V。

硬件設(shè)置包括待測(cè)試器件、電源、信號(hào)發(fā)生器、衰減器、限制器、平衡-非平衡變壓器（僅用于頻域測(cè)量）、熱強(qiáng)制單元、測(cè)試負(fù)載板以及相位噪聲分析儀（PNA，用于頻域測(cè)量）或示波器（用于時(shí)域測(cè)量）。該器件接收來(lái)自 SMA100B 信號(hào)發(fā)生器的輸入時(shí)鐘，該信號(hào)發(fā)生器輸出正弦波。但是，由于 TI 的時(shí)鐘器件期望基準(zhǔn)輸入在特定振幅和轉(zhuǎn)換率下產(chǎn)生方波，因此 SMA100B 的輸出會(huì)通過(guò)多個(gè)衰減器和一個(gè)限制器傳遞。LMKDB1xxx 系列器件需要 3.5V/ns 的轉(zhuǎn)換率和 1.6Vpp 的峰峰值擺幅，這是通過(guò)上述設(shè)置實(shí)現(xiàn)的。

對(duì)于頻域測(cè)量，器件的差分輸出連接到平衡-非平衡變壓器，以將其轉(zhuǎn)換為隨后路由到 PNA 的單端信號(hào)，如圖 2-1 所示。

圖 2-1 TI 用于頻域測(cè)量的 PCIe 合規(guī)性測(cè)試硬件設(shè)置

對(duì)于時(shí)域測(cè)量，器件的差分輸出（正負(fù)引腳）直接路由到示波器，如圖 2-2 所示。此外，在獲取時(shí)域測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí)，PCIe 測(cè)試負(fù)載是 4GHz 下的 15dB 損耗跡線。

圖 2-2 TI 用于時(shí)域測(cè)量的 PCIe 合規(guī)性測(cè)試硬件設(shè)置